被测器件相关论文
可编程逻辑设计的规模越来越大、逻辑越来越复杂，设计验证工作量也成指数级倍增，尤其是怎样自动生成测试用例数据、怎样进行测试用例......
网络分析仪对输入的信号进行扫描获得被测器件的频率响应,通过对反射和传输频率响应进行傅立叶逆变换获得时域上的冲激响应,再对冲......
本文简要地介绍了一种集成电路测试仪的结构、原理、应用.它以Z80微处理器为中心,将标准逻辑功能表存储在EPROM中.被测器件的输入......
引进高级制造标准意味着测试设备必须更精确地校准
The introduction of advanced manufacturing standards means that test equ......
混合信号器件与电路板的测试仍然是一昂贵和费时的过程,因为必须同时具备数字和模拟测试设备。模拟测试存在的问题是,测试过程不......
本文论述的是一个基于 VXI 总线仪器的先进的电路印制板(PCB)自动测试与故障诊断系统,与其它夹具式电路板在线测试仪所不同之处在......
本文介绍一种实用的半导体功率器件开关特性测试仪，其最高测试电压为１０００Ｖ，最大测试电流为２．５Ａ｜７００Ｖ．
This article describes a practical semicon......
通常,我们不可能使用标准的环境试验室或环境试验机械手来测试各种最新的半导体器件。环境试验室不可能快速改变温度,而小型机械......
电子制作和维修人员在调试任何电子电路时,都必须从检测各测试点和器件的引脚做起,无论使用示波器、万用表、频率计、逻辑分析仪......
随着分立元件的体积越来越小,你不能再考虑用探针来检测,而应考虑用模拟边界扫描。
As discrete components become smaller and ......
本文介绍了线性电路动态老炼筛选技术及其所需设备
This article describes the dynamic aging of linear circuits screening te......
对淡黄色透明电光晶体ＧａＰ衬底上的共面波导进行了直接电光调制测量．获得了ＧａＰ的输入电压与电光调制输出的线性曲线和２６ｍＶ·Ｈｚ－１２的电压灵敏度，并与ＧａＡｓ直......
本文叙述了对高速IC测试系统进行评估的方法,指出了对系统的要求、衡量系统的标准及具体的应用性能。
This article describes a ......
1 我国电子设备维修领域需要器件级维修电子仪器、设备的电子电路部分,主要由焊装有许多电子元器件的电路板电路组成。电路板上的......
用红外热成像系统直接获得的热像图，是被测器件表面辐射温度的分布，并不是真实温度的分布。现介绍一套电子器件热辐射特性测试分析系......
无源器件互调失真对通信系统的接收有很大的影响,一般来说无源互调电平随其阶数的增加而降低,接收通带中的最低波段受到PIM干扰的......
本文介绍的激光光声诊断方法是一种非破坏性的检测质量的方法,采用此方法可以使电子和微电子器件的封装工艺条件得到优化。不断地......
给出一种数字集成电路(IC)测试系统的软硬件设计方案。该系统基于自定义总线结构,可测试宽范围电平。
The hardware and software......
简介 集成电路(Ic)的静电放电(ESD)强固性可藉多种测试来区分。最普遍的测试类型是人体模型(HBM)和充电器件模型(CDM)。这......
采用控制和测试分离的方式对中科院上海技术物理研究所研制的深低温温度循环设备进行改进,由单片机(MCU)完成对步进电机和自动输液......
当前,老炼仍被广泛应用于塑封微电路(PEM)的可靠性保证。为了解决老炼过程中存在的热失控及温度不一致的问题,该文设计了一套温度......
为保护绝缘栅双极晶体管(IGBT)测试电路及芯片失效信息,提出了一种新型的无损IGBT短路安全工作区测试电路,可以在器件测试时根据测......
人体–金属模型波形(HMM)和传输线脉冲(TLP)波形是静电放电防护器件测试时常用的注入波形。针对静电放电(ESD)防护器件,介绍了这2......
一、12位以下数-模和模-数的测试1.数-模线性误差自动测试装置在叠加误差可以忽略不计的情况下,可以用图1所示的自动测试装置,迅......
一、测量方法在微波测量中,绝对准确是一个难以实现的目标。美国标准局花了大量投资和时间,达到了0.001dB 量级的绝对准确度。本......
本文提出一种对消微波双通道相移测量中失配误差的方法,可用于精密相位计的比对和高精度相移器的研制。论述了此法的理论和测量步......
晶体管特性图示仪由于具有展现各类被测器件特性的全貌,信息量大、量程宽、灵活多变的测试组态等特点,在电子技术高度发展的今天,......
一、前言M.Rehman 等人曾提出一种电阻测量系统,它能产生一个正比于被测电阻的电压读数。该系统示于图1,R_x 是被测电阻,R_(1E)和......
普通的光学显微镜是用光源照射样品,观察反射光或透射光并成像。与普通显微镜不同,红外热像仪和光辐射显微镜是用于检测样品本身......
为适应半导体存贮器研制和生产的需要,我们研制了一种造价低廉、性能可靠、测试图形的产生非常灵活的以微型计算机为主的存贮器功......
前言 我国研制微型机系统所需的各种大规模集成电路的工作正在全面开展着,并且已面临着各种电路的测试问题。每测一种电路都装配......
前言集成电路是晶体管技术进一步发展的结果,同样地,集成电路的测试,最初也是沿用了测试晶体管参数的一些方法,例如输出电平、电......
在微处理机控制的数字集成电路的测试设备中,如何快速而准确的调用被测程序段.对测试的自动化程度有着直接的影响。本文结合用一位......
一 概述 随着位片器件的广泛应用,位片器件的自动测试就成为厂家和用户所关心的问题。 对于大多数用户来说,最关心的是装机前的功......
引言近年来我国在微型机的生产和应用方面,有很大的进展;但是大规模集成电路的生产还是相当落后,和它密切相关的微处理器测试方法......
1 概述微处理器是一种功能很强、集成度又很高的芯片。由于该电路的内部结构非常复杂,并且可控制性和可观察性又较差,这给其测试......
XJC-1集成电路群控测试仪是由主机(附一个测试盒)和三个测试台组成的TTL中、小规模集成电路直流参数测试设备。该仪器根据部标规......
上海无线电二十六厂生产的TF8微波同轴反射计,是一台在8～12.4千兆赫频段阿能对同轴型元、器件反射特性进行扫频测量的仪器。该仪器......
一个系统的互调失真常常用它的三阶截取值来表示,其是最广泛地用来表明系统线性的品质因子。即使低信号电平加到被测器件,要想准......
对Al-Al_2O_3-ZnS:Cu,Er,Cl-SnO_2直流薄膜电致发光(DCTEL)器件作了光电特性测量。发现被测器件的C-V特性类似于MIS结的特性。分析......
