集成电路测试相关论文
阐述基于LK8810S平台的数字集成电路测试技术，它对典型数字芯片74HC595测试，包括开路、短路、直流参数、逻辑功能进行测试，测试结果表......
集成电路测试专业人才匮乏的现状已经极大地制约了国内集成电路产业发展。对集成电路测试工程师的能力要求涵盖电子电路设计、集成......
阐述集成电路制造中芯片测试技术，四种trim的分类和修调与优化，基于案例分析，探讨trim的方法，提供trim的具体修调方法。......
设计的电路特性测试仪选用STM32F103为主控芯片,DDS芯片AD9854为正弦波信号源输出,OPA365构成小信号放大电路,AD637为有效值采样芯......
集成电路是新一代信息技术战略产业的基础,关乎国家的信息安全和经济安全。集成电路测试是集成电路产业链的关键技术环节,贯穿于设......
随着集成电路制造技术的飞速发展,电路的规模和复杂性不断提高,使得测试所需的时间和数据量快速增长,导致了测试效率的降低和测试......
随着物联网产业和信息产业逐渐兴起,集成电路产业也逐渐在其中占据着举足轻重的地位。目前,集成电路制造技术在不断进步,然而在集......
SOC可以有效地降低电子信息系统产品的开发成本,缩短开发周期,提高产品的竞争力,是未来工业界将采用的最主要的产品开发方式。为了......
集成电路（Integrated Circuit,IC）是一种微型的电子器件或部件,在现代电子设备中具有不可替代的重要作用。随着电子设计技术的快速发......
阐述一种集成电路防反插测试技术,该技术通过检测集成电路引脚之间的阻抗来判断集成电路的插装状态。根据对集成电路插装状态的检......
集成电路测试贯穿集成电路的设计、制造、封装和应用的整个过程,是验证集成电路质量和性能的重要手段,在整个生产流程中占据着不可......
长期以来,测试被认为是整个商用集成电路设计制造过程中最关键的环节之一。随着半导体制造技术的快速发展,电路的规模和复杂度与日......
为了解决高速数电芯片测试速度慢、测试精度低的问题,提出一种利用LK88系列测试平台对集成电路高速数电芯片参数进行有效测试的方......
扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,该方法是提高测试质量的有效手段.由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面......
新一代的自动测试设备具有更丰富的可配置资源,但同时也使得传统的手工配置测试资源的方法变得十分困难.为自动优化配置测试资源,......
本文对一款X86架构处理器的复杂指令在保护模式以及长模式下进行了功能验证。通过对X86架构处理器运行模式进行分析，搭建了进入保护......
三维堆叠集成电路测试中的一个关键的挑战是在功耗约束下,在绑定前测试和绑定后测试中,协同优化测试应用时间和测试硬件开销.将传......
《电子测量技术》一直立足于以创新、实用为特点,致力于加强业界学术交流活动,推广新技术、新产品的应用,以促进电子测量技术的发......
阐述晶圆可接受测试(WAT)是晶圆代工厂在出货前的一道重要工序.WAT测试结果的精准度决定着晶圆片能否顺利出货.因此,WAT工程师的一......
分析表明,闪存芯片测试的两个阶段晶圆测试和终端测试,都需要进行低温测试.低温制冷技术在两个测试阶段都得到了很大的应用.探讨在......
“八五”集成电路CAT重点科技攻关项目“大型测试系统3190”于1997年9月在京通过部级鉴定由北京自动测试技术研究所(集成电路测试......
第十届全国半导体集成电路硅材料学术年会于1997年9月15日至19日在青岛召开。大会共录用论文169篇，内容包括硅和其它硅基材料（50篇）、......
由中国电子学会电子测量与仪器学会集成电路测试专业学会主办的第八届全国集成电路测试学术年会将于9月2日至6日在北京中国科技会......
由电子工业部下达的“八五”国家重点科技攻关项目:《测试程序库的开发》专题,在集成电路测试技术中心通过专家鉴定及国家验收。 ......
以时间而言,千年之槛只是一秒之差而已,可人们却早早地就憧憬着下个千年,企盼着天堂般的未来。现在的人已感觉到了“知识经济”、......
’99VXI技术大会·第九届全国IC测试学术年会于1999年5月24日至28日在北京联合召开。同时还举办了电子仪器·自动测试/数据采集设......
每年5月,都要在北京举办一次VXI技术大会。今年,’99 VXI技术大会象往常一样如期召开。这项活动是自96年起由中国计量测试学会VXI......
本期刊载了“’99VXI技术大会”与“第九届全国集成电路测试学术年会”联合举行的报道。本刊重视大会的召开,作为协办单位将积极......
二十世纪六十年代,伴随集成电路的问世,诞生了集成电路测试设备行当。集成电路是个前无古人的开创性的产业,集成电路测试设备自然......
“八五”科技攻关项目《大型测试系统开发》即BC3190大规模通用集成电路测试系统,近日通过国家计委和电子工业部组织的专家鉴定。......
2000年全国测试学术会议于2000年10月16日至2000年10月18日在北京装甲兵工程学院举行。此次学术会议将“全国测试与故障诊断会议......
为改善集成电路测试仪对器件编程和建库的效率 ,根据可视化和易于用户编程的要求提出了一种方案 ,并用填写器件功能表的方式成功予......
以9001测试系统为例，介绍计算机在集成电路测试技术中的应用及测试原理，以及现代测试中利用软件进行数据处理，提高测试精度的一些方法......
I_(DDQ)测试是当前倍受国内外业界人士关注的一种新的CMOS集成电路测试方法和技术。这种测试是在多种输入逻辑条件下测试CMOS电路......
德律科技公司近日举办测试系统技术研讨会，并重点推介了他们的TR-6020/TR-6050 IC Tester集成电路测试系统。它们的测试速率分别为2......
安捷伦科技与复旦大学日前宣布联手成立复旦—安捷伦集成电路测试联合教育中心,为中国半导体产业培养高端人才。数以千计的半导体......
2000年至2002年间,中国IC产业的投资总额约300亿元,相当于过去40年的投资总和,其中来自海外的投资无疑是一支不可忽视的力量。集......
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中国信息产业部电子第五研究所与全球著名公司美国安捷伦科技日前签订了全方位集成电路测试技术合作协议,并成立集成电路测试产业......
该文对无线集成电路测试方法进行了研究,结合无线测试方法,提出了调制矢量网络分析(MVNA)和多射频接收器的真实并行测试方法,解决......
对于混合信号集成电路来说,其模糊和数字部分之间存在相互关联,如模拟输出控制数字输入.为了测试出电路中的呆滞型故障,需要考虑对......
