测试生成相关论文
软件规模和复杂性的日益增大,程序代码中的错误和缺陷层出不穷,给软件测试和程序调试带来了新的挑战,自动程序修复成了解决测试和......
网络上使用的软硬件可能来自于不同的公司，它们的互操作直接关系到网络是否可以提供期望的服务.由于网络上使用的软硬件大多已经经......
本文以状态变换图为基础,分析冗余状态与变换之间的特征,讨论了结构故障和冗余之间的联系,并结合验证算法提出状态冗余的隐含遍历......
利用分支函数极小化,生成给定路径的测试数据,需计算路径上谓词中变量的当前值.文中基于谓词的程序切片自动生成算法,以相应的切片......
面对VLSI设计规模日益增大的挑战,除了电路并行以外,其它已有的基本并行策略都无法从根本上解决测试生成的复杂性问题.然而,已有的......
本文提出了基于真值表的组合电路测试生成算法,同时证明了这是一个完全的算法.该算法对真值表稍作处理就能对输入端的单故障生成测......
在测试生成中一般认为二态控制端故障和时钟故障是不可测故障，然而这些故障是可以在测试设备中反映出变化的，究其原冈是因为测试生成......
在软件测试中,会碰到各种类型的软件故障,而且这些故障的灵活性很强.这篇文章的旨在建立不同类型的故障模型,以便于管理和标准化这......
本文论述了基于布尔过程的平均瞬态电流测试(I)ATPG方法实现的主要困难,本文应用遗传算法,对CMOS电路固定开路故障做平均瞬态电流......
本文主要依据《A Tutorial onBuilt—in Self—test》Part Ⅱ:Applications,IEEE Design ＆ Test of Computers June 1993PP67—77编......
本文针对固定型单故障,讨论了不同结构的、任意位全加器的测试生成问题。对于串行进位的全加器,只需8个测试码就可得到100％的故障覆......
本文在简略地回顾DFT技术发展过程的基础上,通过比较DFT和SFT,阐述了开发高级测试综合工具的重要性,给出了高级测试综合的基本概念......
本文根据数字电路自动测试与故障诊断理论,结合电力系统运动装置数据采集板的特点,对其数字电路提出了一套测试与诊断的方法。
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本文描述了电路基于呆滞型故障模型的功能级测试生成的概念及临界二元树（Ｃｒｉｔｉ－ｃａｌＢｉｎａｒｙＴｒｅｅ，ＣＢＴ）用于功能级测试生成的方法，提出了一种新的临界输入动态识别......
美国Teradyne(泰瑞达)公司于1996年11月12日在德国慕尼黑推出了第一台采用VXI结构的生产测试平台,以满足对最新的表面贴装电路板......
本文给出了一种基于代数学和拓扑学技术的自动测试向量生成系统。其中采用了电路分块,可测性度量,q值函数,修正试探法,交互性故障......
详细分析了固定故障所反映出的状态变换特征,提出状态变换故障模型以及相对应的测试生成压缩方法;基于无复位时序电路,深入研究了......
基于消息传递的多指令流多数据流（ＭＩＭＤ）多机并行系统，提出一种组合电路测试图形生成的新的并行处理方法。该方法首先定义基本门电路的特征......
二元判定图(Binary Decision Diagram,BDD)的有效描述将大大提高验证和测试生成效率。作者根据电路结构的特点,以标准门的BDD为基......
提出了部分扫描可测性设计的最优实现方法，包括扫描触发器的选取、组合功能块的划分、扫描链的排序以及测试码生成等几部分内容
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针对文献［１］提出的时滞测试能量函数，指出了该时滞测试能量函数在测试生成时可能产生无效测试，且其表达式较复杂。在此基础上构造了新的......
测试问题日益成为VLSI发展中的瓶颈问题,为了减少测试的困难,人们普遍接受的途径是在设计过程中就考虑电路的可测性,即采用可测性......
以状态跳变图为基础,深入分析了冗余变换与非法变换的特征,提出结构冗余和功能冗余的概念,并讨论了可测故障、不可测故障和冗余之......
文中在分析目前PCB测试问题的基础上,提出了一种可测性设计的新方法。该方法综合应用了边界扫描置位技术,可以提高电路的可控性和......
本文评述一些测试多芯片模块(MCM)基板的技术。这些测试技术涉及电容测试、电阻测试、电子束测试、潜开路测试、时域网络分析(TDNA......
基于基本门电路的特征函数及被测电路的约束网络结构模型，首先提出一种用于数字电路的模拟退火（ＳＡ）测试生成算法，然后在ＳＡ算法中采用梯度算......
本文以先行进位加法器为例，将确定性测试方法与伪随机测试方法相结合，提出了实现内建自测试电路中测试生成器的、在测试时间和测试电......
提出一种在高层次综合过程中考虑可测性的算子资源分配算法：在算子调度完成后，通过建立各个算子之间的操作相容图和可测性相斥图，从而......
针对ＶＬＳＩ系统芯片（ＳＯＣ）级设计中存在的故障模拟和故障估计问题，从系统级行为算法入手，对系统芯片级中故障进行模块划分，抽取了故障模块模型ＭＵＳ，提出......
文章给出了一阶布尔差分的几种求法，并对这几种方法进了分析、比较，进而通过具体逻辑电路阐述如何用布尔差分及其性质迅速求出逻辑电......
文中在分析改良计数算法和移位“1”算法的基础上,提出了一种新型的边界扫描测试向量生成算法——等权值算法。该算法实现了测试向......
本文讨论了VLSI功能测试的自动测试生成算法,并给出实用的算法模型。
This article discusses the VLSI functional test automat......
介绍了一种VLSI功能测试生成的结构分析法。它采用Petri网作为测试序列的模型工具,通过简化Petri网选择不确定度最小的测试序列,以......
本文讨论了在源输入的确定赋值数最小时组合电路的测试生成方法后，介绍了基于可满足性的测试向量压缩的整数线性规划(ILP)模型。利......
本文阐述了基于布尔函数的组合电路测试生成方法,给出了测试生成的基本运算规则及测试生成的算法——任意路径敏化法。该算法适用......
IEEE 1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法 ,在边界扫描测试过程中 ,生成合理的测试向量集是有效应用......
描述了基于可满足性的测试向量压缩的整数线性规划 (ILP)模型 ,求解整数线性规划采用 0 - 1加法算法。由ISCAS85标准电路实验结果......
对于混合信号集成电路来说,其模糊和数字部分之间存在相互关联,如模拟输出控制数字输入.为了测试出电路中的呆滞型故障,需要考虑对......
针对多芯片组件 (Multi- chip Module)互连测试的特点 ,用构造互连结构的神经网络状态表 ,求解满足状态表所有状态的能量函数方程......
时延故障对高速运算电路性能有着关键性的影响,本文对高速加法器之一的条件和加法器的通路时延故障作了研究。首先对其提出了一种......
