微电子测试相关论文
由中国电子学会电子测量与仪器学会集成电路测试专业学会主办的第八届全国集成电路测试学术年会将于9月2日至6日在北京中国科技会......
本项目是由北京自动测试技术研究所承担的,属国际前沿科研课题,内容涉及微电子测试与设计等多项重要内容,具有重要的理论意义和实......
这一期的《微电子测试》以崭新的面貌呈现在广大读者面前。新版《微电子测试》冲破原来划定的范围比较狭窄的微电子测试小天地,阔......
首先建立缺陷空间分布和粒径分布的模型,并讨论了缺陷通过版图产生电路错误的过程,给出了IC功能成品率模拟器XD-YES的实现。用XD-YES对微电子测试图......
每年5月,都要在北京举办一次VXI技术大会。今年,’99 VXI技术大会象往常一样如期召开。这项活动是自96年起由中国计量测试学会VXI......
本文讨论了VLSI功能测试的自动测试生成算法,并给出实用的算法模型。
This article discusses the VLSI functional test automat......
标准对测试和测量仪器是非常重要的。商用标准把供应商和用户之间的误解减少到最低程度,并有助于保征测试是可重复的。政府标准和......
一 前言: 随着集成电路向大规模、高速化、微细化方向的发展,对生产工艺的监控、检测也日益显得重要了。硅栅CMOS集成电路的工序较......
《微电子测试》是我国第一个微电子信息系统计算机辅助测试(CAT)技术方面的专业期刊,于今年九月创刊。刊物内容为:国内外CAT技术......
本文介绍了有关微电子测试图技术的几个基本概念,结合我们在调试工艺设备、摸索工艺条件时使用的一套微电子测试图说明采用计算机......
本文首先介绍金属-半导体接触电阻的基本概念。然后指出如何根据待测接触电阻的类型正确选用合适的微电子测试图形。最后强调说明......
1994年第8卷第1期(总第27期)(1)测试生成算法···……向东魏道政3(2)自动测试图形生成的并行处理技术综述… ·········......
本文提出一种用于科学地评价双极型半导体器件(npn或pnp晶体管)工艺水平的微电子测试图形。该测试图形由物理分析及工艺参数测试结......
本文介绍了用于硅栅CMOSIC园片级工艺诊断和可靠性监控的微电子测试图形。重点论述了(1)用于检测漏、源及多晶硅薄层电阻和因扩散......
TZ - 6 0 1自动探针测试台是我公司新研发的高性价比的中测设备。它具有分辨率高 ,运行速度快等优点 ,某些技术指标超过了国外同类产......
本文介绍了几种新颖的微电子测试结构及其应用,诸如栅氧化物可靠性评估、薄介质层击穿以及预示MOS绝缘层的边缘效应.同时讨论了超......
TZ-601自动探针测试台是我公司新研发的高性价比的中测设备。它具有分辨率高,运行速度快等优点,某些技术指标超过了国外同类产品,同时......
<正> 一、概述 工艺质量监测与控制是半导体器件和集成电路制造技术所要探讨的重要课题。国外在集成电路研制和生产过程中,推广使......
本文介绍了一种专用集成电路测试仪的系统开发和设计。讨论了系统的硬件构成和软件组成。该系统以单片机8031 为核心,可以单独运行,也可......