自动测试设备相关论文
“没有测量就没有科学”。自动测试系统（ATS）对于复杂机电系统的开发和质量保证具有重要的意义,作为自动测试系统的重要组成部分,模......
集成电路是新一代信息技术战略产业的基础,关乎国家的信息安全和经济安全。集成电路测试是集成电路产业链的关键技术环节,贯穿于设......
SOC可以有效地降低电子信息系统产品的开发成本,缩短开发周期,提高产品的竞争力,是未来工业界将采用的最主要的产品开发方式。为了......
全球半导体产业发展的几十年中,芯片的测试成本一直占据芯片总成本中的很大比例。芯片测试成本主要是时间成本,如何有效地减少测试......
面向航空、航天机载设备的自动测试、故障检测与维修,采用目前国际测控领域流行的VXI测试总线硬件结构和LabWindows/CVI虚拟仪器软......
摘要：30多年以来，自动测试设备（ATE）已经成为电子系统维修和保障的主要方法和工具，它广泛应用于军用航天系统的系统级及电路板级测试中......
由于集成电路设计趋势正快速朝向所谓系统芯片(SoC)设计方法迁移，并且各种预先设计和验证的芯核集成在一个芯片上，对于外部自动测试......
在雷达系统的研制过程中,为了检测雷达系统的性能,需要进行样机试验。然而有些情况下真实的雷达回波信息很难获得,此时需要对雷达......
该文在分析边界扫描测试技术的基本原理及IEEE1149.1标准的基础上,提出并讨论了一种基于微机的边界扫描测试仪器的设计方案.完成了......
本文介绍了一种应用商用VXI模块组建的飞机武器系统自动测试设备,给出了该设备的硬件组成和软件结构,并阐述了应用数据库管理TPS的......
本文论述了DSP芯片测试技术发展趋势,介绍了一种适用于在自动测试设备上开发DSP芯片测试程序的方法,包括测试程序开发流程、测试接......
弧焊电源的性能是影响焊接质量及其使用安全的重要因素，因此需要专用设备按国家有关的质量认证标准对出厂的弧焊电源进行检测。本论......
随着半导体制造工艺的发展和集成电路设计技术的提高,芯片设计业己进入了系统级芯片(SoC, System On Chip)时代。如今SoC的一个重......
该文的主要研究工作包括:根据制灯工艺的要求,该文研究了制灯过程中的关键工艺,包括杂质控制和全新的工艺流程,提出了诸多提高金卤......
本文分析了现行国际主要几种ATE体系结构和技术，总结了不同类型被测对象对仪器资源和测试路径的需求，以ATE“模拟总线”技术为基础，根......
随着计算机技术和通信技术的飞速发展,武器装备的复杂程度在不断提高,数量也越来越庞大。为了使保障部门能够对武器装备的作战能力......
随着现代工业生产的发展和科学技术的进步,现代电子设备的功能越来越多,性能也越来越高。同时使得维护、修理费用也相应的上升。因......
随着现代控制系统和电子设备的日益复杂化，自动测试设备（ATE）已经成为电子设备生产、测试和检测过程中不可缺少的重要设备。飞机运营......
一、前言rn随着因特网的日益发展,数据电缆的应用也越来越广泛.而数据电缆的电性能测试也变得越来越重要.目前数据电缆测试测试参......
爱德万测试(ADVANTEST)主要从事大规模集成电路自动测试设备及电子测量仪器的研发、制造、销售和服务.公司在2011年成功收购惠瑞捷......
该文从挂篮荷载计算、施工流程、支座及临时固结施工、挂篮安装及试验、合拢段施工、模板制作安装、钢筋安装、混凝土的浇筑及养生......
基于Verigy 93000 ATE,采用外挂高性能晶振和射频信号源的测试方案,实现了11位分辨率AD80141最高400 MHz输入信号的测试。结果表明......
说起电子产品,一般人都会想起大屏幕电视、手机、计算机、DVD播放器、MP3播放器、数码相机、数码摄像机、个人媒体播放器、便携式......
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连续三年在VLSI客户满意度调查中ATE(自动测试设备)公司都排名榜首,并赢得英特尔公司最佳供应商称号,这一系列殊荣对于科利登(Cred......
文章介绍了通用CPU模块自动测试设备的硬件选型和适配器电路设计，以及基于CS结构采用Lab Windows/CVI为开发工具的软件开发方法。该......
本文讨论了具有边界扫描接口的可编程逻辑器件在线编程模型建立的途径,并以BC3192V50高速数模混合测试系统为平台,介绍了ALTERA公......
介绍了采用PC/104-GPIB混合总线方式的某机电装置自动测试设备通用计量检定系统的设计思想,重点讨论了系统的硬件和软件设计中的技......
高速PCB板的设计首先要解决好信号完整性问题,本文依据信号在ATE测试机台走向针对通孔、传输线和涂层等几个方面对高速PCB设计做几......
为了解决民航大型客机电子部件综合自动测试系统投资成本高、面临技术封锁等问题,设计与建立了实用新型的IATS2000综合自动测试系......
对于AC-DC电路测试，圆片测试（CP）一般采用开环测试的方法，测试项目较少，从而使CP的测试时间大大减少，提高了测试效率以及测试产能。CP测......
为提高集成电路测试效率,提出一种结合三态信号的改进游程编码压缩方法。先对原始测试集进行部分输入精简处理并填充测试集的无关......
在将自动测试设备(ATE)应用于印制电路板(PCB)的测试中,开关矩阵的性能将直接影响到ATE的通用性.针对传统的开关矩阵设计方法,提出......
为了节约军用自动测试设备研制经费和全寿命周期费用,提升设备快速保障能力,达到效费比最大化目标,从测试保障整体角度,分析了被测......
针对传统机载设备侧重于功能测试的技术缺陷，提出了一种机载模块性能测试系统。阐述了测试系统的架构设计和基于LabVIEW的算法实现，......
本文对半导体自动测试设备以及负载板继电器的特点和应用进行了阐述,在此基础上提出利用半导体自动测试设备测定负载板继电器各项......
随着现代通信技术的发展,大多数计算机都只通过USB接口进行数据传输,这对传统半导体自动测试设备控制也提出了新的要求,所以通过US......
30多年以来，自动测试设备（ATE）已经成为电子系统维修和保障的主要方法和工具，它广泛应用于军用航天系统的系统级及电路板级测试中。航......
在各种定制化测试设备中,由于很多仪器驱动不符合现有的标准,从而降低了测试软件的开发效率和质量。为此,提出了一种面向功能的测......
文中针对目前FPGA测试环境系统开发中存在的自动化程度不够高、速度和精度不能达到要求等问题，根据FPGA的特点，基于软件测试技术，结合......
本文介绍了一种用于多型导弹电气测试的通用测试设备,以及硬件电路结构和软件设计原理.该测试仪利用单片机测控技术,能够实现自动......
为了实现ATE系统的远程监控,采用一种PLC和远程计算机组合控制的方案,构建了TD手动控制与监控计算机组态远程控制两种无痕迹切换的......
现有测试模式的缺陷,使得设备平均测试时间较长,测试程序维护复杂,限制了先进故障诊断算法的应用;设计了一种新的软件平台架构,将......
为了满足军用自动测试系统准确度要求高、测量点多、实施性强的特点,实现提高测试准确度、简化硬件电路设计的目的,采用了基于LXI......
为实现对机载电子设备ATE各种射频线路的自动控制与连接,设计研制一套数字I/O控制的机载电子设备ATE微波控制器。简要介绍ATE微波......
