电路测试相关论文
对电路信号进行测试、优化是增加电路控制能力、防止干扰的重点，将自动化测试技术引入到信号处理中，可有效提高测试工作效率。主要研......
引入EDA设计工具Multisim14,展开模拟电路仿真测试,以数字电路模60计数器为例,运用Multisim14所支持的VHDL语言条件设计电路,在Mul......
期刊
为了满足半导体激光器(LD)对电流源高稳定性、低噪声的性能要求,文中基于负反馈原理设计一种可调节低噪声恒流源电路.该电路使用带......
针对集成电路故障诊断中故障数据缩减方法N-cover存在冗余故障数据的问题,提出了结合格局检测与局部搜索的故障数据缩减方法.通过......
本文设计了一种基于堆栈效应的漏电流模拟器,并提出了通过该模拟器,利用测试向量中特有的不确定位以优化测试中静态功耗的方法.实......
设计了一种基于多晶硅二极管的DMOS器件的ESD保护。多晶硅二极管作为ESD保护较体硅二极管而言，降低了器件泄漏电流，消除了衬底耦合噪......
本文提出了一种基于向量优化重组的LFSR重播种方法。针对测试集中测试向量的确定位位数不同的特点，先对 测试向量进行奇偶切分，接着......
传统交流故障字典法通过施加不同频率的正弦激励，以获得对待测电路中频率敏感元件更高的故障覆盖率。为减少多次对待测电路施加激励......
随着芯片集成度的不断提高，功能验证已成为IC设计流程中时间耗费最大的环节，因此尽早且快速地发现集成电路设计中的错误，对于缩短验证......
随着集成电路工艺尺寸的进一步缩小，制造出可靠或功能完全正确的数字电路越来越困难，设计成本越来越高，系统可扩展性也面临着挑战。同......
随着工艺的不断发展，越来越多的因素会在电路中引入小时延缺陷，因此检测小时延缺陷变的非常必要。本文首先回顾已有的几个评估小时延......
Thanks to the boom of the China semiconductor industry, there is a huge demand for VLSI test professionals in the market......
基于北京新润泰思特测控技术有限公司的BC3196D数模混合集成电路测试系统,提出了一种音频功率放大器的封装测试方案.从分析该功率......
集成电路测试系统校准关系到集成电路测试结果的准确性和可靠性。本文介绍了93k SOC系列测试系统概况,重点论述了93k集成电路测试......
通过边界扫描各标准的研究,分析了基于边界扫描的综合测试系统结构组成,并完成了基于USB接口的MTM总线(IEEE1149.5)主控制器以及具......
用于越来越复杂的汽车应用的集成电路带来了特殊的测试要求。用于不同应用的先进IC，如高度集成的自动刹车系统(ABS)和气囊控制器组......
离散事件系统的基本特征是动态过程由事件驱动而不是时间驱动,系统变量中至少一部分是离散的。在混合电路的故障诊断中,离散事件系......
为了把设计先进的器件及时按计划地推向市场，芯片的设计者和制造者面临着更复杂的器件要求和对价格极度敏感的市场的双重压力。本文......
通过对两种混合集成电路即温控电路及隔离放大器BB3656BG的失效分析,表明以下观点:(1)对混合集成电路的分析,应通过电路内部测试,......
本文提出一种基于FDR编码高效测试数据压缩的扫描树结构.首先,我们分析了扫描树技术和FDR编码技术结合的高效性.然后,我们提出了一......
测试压缩下的功耗问题已经成为近期研究的热点。本文提出了一种新的低功耗广播式测试压缩结构,通过有限状态机控制一半的内部扫描......
交流故障字典法需依次施加各频率正弦激励，得到完整故障特征。提出通过叠加简单正弦激励，合并原有多次激励施加过程，达到诊断加速目的......
用于调试铁路室内电路的传统模拟盘存在携带不便、通用性差以及测试不完善等缺点。首先运用模块化思想,将室外信号设备设计成独立......
随电子模块的广泛使用，对其进行有效测试是电子装备生产与维修的重要内容。本研究以虚拟仪器技术为基础，设计了基于PxI测试总线的自......
本文阐述了ATE软件领域的“危机”，提出用软件构架这一软件工程方法解决“危机”的新途径，分析了这种方法的优点。介绍了近年来研究......
为了实现低电压，大电流，并联MOSFET是一种被广泛采用的解决方案。影响MOSFET并联可靠运行的主要因素是器件的均流，在源极串联补偿小电......
随机测试长久以来一直被认为是测试工作的基本方法之一，其简单和直接的特点被人们广为利用。在随机测试中，测试者无需预产生测试......
美国胜利电讯公司生产的数据电信电路分析仪Sunset E10是一种多用途、多功能的手持型仪表,可全面满足50bps到2Mbps的数字网络电路......
HP内电路测试的系统 HP Asia Pacific公司的3270系统,特色是采用测试射流(Test-Jet)技术,能准确“诊断”数字和混合信号装置是否......
新型高速放大器的有效性使其能够利用简单且经济的电路测试快速移动的交流信号,图1所表示的峰值读出电压测试电路,设计用作宽带交......
基于消息传递的多指令流多数据流（ＭＩＭＤ）多机并行系统，提出一种组合电路测试图形生成的新的并行处理方法。该方法首先定义基本门电路的特征......
模拟集成电路的复杂性和制造密度的提高,使得电路的测试成为一个重要同时又是困难的任务,传统的模拟电路的测试,被局限在外接一定......
多路PNP晶体管测试器包含一个由555计时器构成的自激振荡器,其输出通过按钮开关S1驱动一个十进制计数器。IC2的输出Q0到Q3驱动译......
如今,进行高密度专用集成电路(ASICs)的测试绝非易事,有时几乎是不可能的。解决的办法是:使用可测试性设计(DFT),将电路设计和生......
在科学技术迅猛发展、科技产品日新月异的今天,微电子技术应用的广泛性和速变性更显突出。国家为解决集成电路在ATE上测试,为确保......
文中在分析目前PCB测试问题的基础上,提出了一种可测性设计的新方法。该方法综合应用了边界扫描置位技术,可以提高电路的可控性和......
时序电路测试产生过程中,在进行敏化路径选择时会遇到失败问题.本文针对迭代组合阵列模型测试中产生的这些问题进行了有益的探讨,......
基于逻辑电路的单固定故障模型和逻辑函数质蕴涵的特点，定义了两种交运算，并讨论了利用元件的最小０覆盖和１覆盖求交运算产生电路测试和......
IEEE 1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法 ,在边界扫描测试过程中 ,生成合理的测试向量集是有效应用......
研究了Volterra频域核的测量方法,提出一种利用优化正弦谐波信号作为系统的激励信号测量Volterra频域核的方法.将其用于测量2阶Vol......
提出了一种混合FPGA新结构——新颖的AND-LUT阵列结构.其创新之处在于由可编程逻辑簇(Cluster)和相关的连接盒(CB)组成的可编程逻......
新型多用途电路测试笔,结构简单、安装调试容易,体积小巧,携带方便,功能强、用途广泛。既可测量数字电路的逻辑状态,又可作为一种......
