故障覆盖率相关论文
存储器作为片上系统（SoC）中最大和最重要的模块之一，它的稳定性和可靠性关乎着整个芯片能否正常工作。为了提高存储器的测试效率，该文......
在现场可编程门阵列内嵌块存储器（BRAM）测试中，传统测试方法存在故障覆盖率不高、测试内容较多、测试成本较高等问题。为了提高故障覆......
随着集成电路设计和制造水平的不断提高,测试面临着越来越多的困难,可测性设计(DFT)成为解决测试问题的主要手段。其中,内建自测试......
一个数字系统在使用的过程中要经历无数次的测试和诊断过程,测试和诊断要求快速,有效(故障覆盖率高).解决问题的方法是将测试变成......
本文以国防"十五"预研课题"星载计算机系统可靠性评测技术研究"为背景,研究了基于软件的故障注入方法.重点研究了软件故障注入的四......
半导体制造工艺的发展带来了晶体管单片集成度的增加,电路设计能力的提升推进了集成电路功能和复杂度的提高。这样,集成电路规模便......
集成电路测试是保证芯片质量的关键步骤之一,一个微不足道的故障带来的损失都可能是无法估计的,所以集成电路测试一直是集成电路领......
集成电路(integrated circuit,IC)测试是IC产品制造过程中不可缺少的环节。它既要保证IC芯片的正确逻辑,又要保证IC芯片在规定的时......
随着集成电路(integrated circuit,IC)设计水平和制造工艺的快速提高,芯片的规模和设计复杂度急剧增加,芯片的时钟频率不断提高,这......
随着工艺技术水平的不断提升,单个芯片上集成的器件单元数量急剧增加,芯片面积不断增大。单元间连线的增长既影响工作速度又占用大......
当今集成电路技术进入亚微米甚至深亚微米时代,电路的集成度飞速提高,其测试也面临着越来越多的困难。由于BIST(Built-In Self-Tes......
内存作为计算机系统的重要组成部分,在PC机上的最终体现形式为内存模组(即内存条),随着内存性能的提高,集成度越来越高,对内存的测......
随着科学技术发展,嵌入式单片机正发挥着越来越重要的作用,广泛应用在生产、生活及科研领域。从实现数据采集、过程控制、模糊控制......
文中提出了一种快速离散余弦变换（ＦＣＴ）电路的并发错误检测（ＣＥＤ）结构．为了达到１００％ 的故障覆盖率，ＦＣＴ采用基于第３类离散余弦变换的Ｂ．Ｇ．Ｌｅｅ 算法蝶型结构实现．检测......
本文提出了一种离散余弦变换(DCT)电路的并发错误检测结构,并在此基础上又提出一改进结构.DCT采用B.G.Lee算法蝶型结构实现,检测采......
提出一个基于重复播种的新颖的BIST方案 ,该方案使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子 ,并利用种子产生过程中剩余的随意位......
为了向可重复播种的LFSR结构提供种子，提出一种基于动态覆盖率提高门槛值（Dynamic Coverage Improvement Threshold，DCIT）的种子计算方......
本文首先简要地介绍了基于扫描的DFT技术，然后具体结合一种控制芯片，通过对两种测试方法的比较，说明了DFT对芯片测试向量，故障覆盖率及......
集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战.本文从存储器的故障模型入手着重描述了单端口存储器,字存储器,多端口存储器......
内建自测试（BIST）是可测性设计中常用的方法，其中的测试电路部分要占用一定的芯片面积。提出并实现了一种基于电路自反馈的测试向量产......
计算机系统的主机板是系统的核心，往往也是测试的重要项目。介绍一种微诊断法，实现了时大气数据计算机主机板的测试，故障覆盖率高。该......
针对某型指控系统中的模数转换电路板上含有复杂可编程逻辑器件CPLD以及多路模数转换单元的测试与诊断问题;运用边界扫描测试技术......
介绍了单片机系统RAM测试的一般方法，并在原有的MARCH—G算法的基础上进行了更深入的研究，提出了一种低功耗的改进方法。......
针对传统的数字电路板测试系统存在体积大、性价比不高和通用性不强等问题，提出了基于改进测试策略的数字电路板测试系统。该测试系......
本文提出并实现了一种基于COTS部件、容错机制智能实现的、新颖的通用高可靠容错计算机系统。基于容错功能与用户应用相分离的原则......
在分析深亚微米工艺下芯片的差分静态电流（△Iddq）测试原理的基础上，提出了一套深亚微米工艺下芯片的△Iddq辅助测试解决方案。通过样......
检测系统是检测产品功能、性能以及产品是否能满足用户需求的重要测试工具,机载计算机技术指标的测试从准确度、覆盖率以及稳定性......
DFT技术已经成为集成电路设计的一个重要组成部分.详细介绍了基于扫描测试的DFT原理和实现步骤,并对一个32位FIFO存储器电路实例进......
针对组合电路内建自测试过程中的功耗和故障覆盖率等问题，提出了一种能获得较高故障覆盖率的低功耗测试矢量生成方案．该方案先借助At......
以MPEG-2解码芯片为研究对象，采用基于模块划分方法进行可测性设计，包括边界扫描（JTAG）和内建自测试（BIST）。根据MPEG-2系统结构的特点，把......
给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法,讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问......
随着手持设备的兴起和芯片对晶片测试越来越高的要求,内建自测试的功耗问题引起了越来越多人的关注.本文对目前内建自测试的可测性......
本文基于电路分割的思想提出了一种低功耗扫描测试方法。该思想主要是将原始电路分成不同的几部分，每个部分能够单独进行扫描测试，通......
针对一款雷达芯片电路采用基于扫描路径法的可测性设计，在设计过程中采用时钟复用技术、IP隔离技术，以及针对具体的时钟产生电路采用......
专用集成电路（门阵列ASIC芯片和FPGA芯片）在某重点型号空空导弹的各个组件上大量使用。而且随着微电子技术的发展,专用集成电路在今......
提出了应用模拟退火算法在一定长度的测试矢量集中寻找有效测试矢量的近似最优分组,在尽量减少面积开销的同时减少有效测试矢量的......
自动测试向量生成（ATPG）是借助计算机或者其他工具根据一定的测试生成算法自动的为被测电路生成测试向量的过程。文章给出了一种位级......
随着大规模集成电路、多层印制板的出现，传统的基于自动测试设备（ATE）的测试方法已难以满足电子设备（板级）自动测试故障诊断的需要，本文......
数字集成电路的发展对测试提出了日益紧迫的要求,测试已成为妨碍LSI/VLSI付诸应用的瓶颈问题.尤其时序电路的测试生成,理论上是个......
在组合电路内建自测试过程中,为了保证在获得较高故障覆盖率的条件下,减少测试功耗,提出了一种确定性低功耗测试矢量的生成结构,该......
摘 要：以基于静态随机存储器(SRAM)的现场可编程门阵列(FPGA)为例，在传统的三次测试方法的基础上提出了一种新颖的针对FPGA互联资......
在硬件设计的初期可以对硬件测试中条件分支结构引起的测试向量冗余问题加以解决．以ALU为例，提出了两种分支结构电路的可测性优化设......
针对一款256kbit的低电压8T SRAM芯片进行测试电路设计,电路主要包括DFT电路和内建自测试电路两部分,前者针对稳定性故障有着良好......
无回溯并行多路径搜索算法(NBMP)在生成测试向量过程中生成基于原始输入端奇异立方和与原始输出端关联的传输立方,并利用生成的奇......
随着FPGA集成度和复杂性的增加,测试显得尤为重要。为了保证数字系统工作的稳定性,首先就要保证FPGA芯片的可靠性。从SRAM型FPGA的......
近年来出现的离散事件系统(DES)理论为数模混合电路的测试提供了一种新的解决思路,本文对DES理论在求取数模混合电路的可测试性和......
在BIST测试过程中,测试电路的加入使得数字系统的功耗明显加大,低功耗的BIST设计得到人们的广泛关注.本文介绍几种BIST的低功耗设......
