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在硬件设计的初期可以对硬件测试中条件分支结构引起的测试向量冗余问题加以解决．以ALU为例，提出了两种分支结构电路的可测性优化设计，通过调整分支电路的选择条件来控制测试向量的施加，在保证错误覆盖率的同时可以明显减少不必要的测试向量。
分支结构电路的可测性设计优化
【摘 要】
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在硬件设计的初期可以对硬件测试中条件分支结构引起的测试向量冗余问题加以解决．以ALU为例，提出了两种分支结构电路的可测性优化设计，通过调整分支电路的选择条件来控制测试向
【机 构】
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复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
【出 处】
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复旦学报(自然科学版)
【发表日期】
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2006年1期
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