全扫描设计相关论文
集成电路(IC)工艺和设计方法的提高,在单个芯片上集成多个芯片实现更为复杂的功能成为可能,系统芯片(SOC)集成技术在这种背景下应......
随着集成电路(integrated circuit,IC)设计水平和制造工艺的快速提高,芯片的规模和设计复杂度急剧增加,芯片的时钟频率不断提高,这......
该文针对特大规模组合电路和全扫描设计电路提出了一种高速测试生成方法。该方法采用有限回溯测试模式产生方法生成测试码，采用n（机......
该文的研究即是针对集成芯片中的可测性设计问题进行的,主要包括以下几个方面的工作:首先讨论了集成芯片中的可测性设计的重要性及......
本文在交迭测试体系[2,3]的基础上提出了一种多扫描链的区间构造法，对于确定的测试向 量集能够显著地减少测试应用时间。该构造方法......
自有IC产业以来,如何以最经济,最有效的方式测试IC,而且获得不错的测试品质,始终是非常重要的课题。不管是内存,逻辑产品,还是模拟......
为了保证集成电路产品的质量,测试是非常重要的一个环节,然而随着被测电路变得日益复杂,集成度不断提高,测试变得非常困难,测试成......
随着集成电路在日常生活中的广泛应用，集成电路测试作为保证产品质量的重要环节，越来越受到人们的重视。然而随着集成电路规模增大，集......
为了保证集成电路产品的质量,测试是必不可少的一个环节,然而被测电路的日益复杂和高度集成使得测试越来越困难,测试代价越来越高......
随着集成电路工艺制造技术和IC设计能力的不断提高,对电路的测试变得越来越复杂和困难。可测性设计技术作为目前解决芯片测试问题......
随着集成电路的集成度、规模以及复杂度呈现出几何级数的增长,测试所需的费用越来越昂贵。这些都给电路测试带来了极大难度,同时也......
为保证电子产品的质量和可靠性,对集成电路进行测试必不可少。近几十年来,随着超大规模集成技术的迅猛发展,芯片的规模和集成度大......
全扫描测试是一种最有效和流行的可测性设计技术。它广泛地应用在超大规模集成(VLSI)电路和片上系统(SOC)中。全扫描测试技术通过......
如今,数字系统已经广泛应用于生活中的各个角落。而对于各种数字系统,集成电路是其中最关键的部分。近几十年来,随着超大规模集成......
