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提出一种新型的多晶硅薄膜晶体管电流-电压物理模型，考虑了陷阱态密度的V形指数分布,运用Lambert W函数推出了表面势的显式求解方法,大大提高了运算效率,在电路仿真中发挥了重要作用，基于指数的陷阱态密度和计算的表面势,描述了亚阈值区和强反型区的漏电流特性。推导了完整、统一的漏电流表达式,包括翘曲效应，在很广的沟道长度范围和工作区内,模型和实验数据一致。