杏扁是我国特有的杏属栽培品种,其育种研究开始于上世纪80年代,通过传统的育种方法已经在培育优良品种方面取得长足的进展,但在遗传图谱构建方面及分子标记辅助育种方面的研究,都相对落后于其他果树作物。本研究以我国特有的两个杏扁品种‘龙王帽’和‘优一’及其杂交产生的98株F1代为作图群体,采用SRAP及SSR分子标记成功地构建了杏扁的分子遗传图谱,并对‘龙王帽’、‘优一’及其杂交后代98单株的抗寒性进行检测,并采用区间作图法对杏扁的抗寒性数量性状进行了QTL定位。以期为以后的抗寒基因的定位、克隆以及分子标记辅助育种奠定基础。主要结果如下:1、以产自河北蔚县的品种‘优一’为母本,以产自河北涿鹿的品种‘龙王帽’为父本,构建了F1代作图群体。利用SRAP分子标记技术对‘优一’ב龙王帽’的122个单株的F1代杂交群体进行杂种检测,根据选取的5对拥有父本特异带的SRAP引物从122株实生苗中鉴定出98株真实杂种,为分子遗传图谱的构建及抗寒性QTL定位的研究提供了真实可靠的试材。2、利用筛选出的65对SRAP引物和17对SSR引物对‘优一’ב龙王帽’的F1代进行扩增,得到234个SRAP分离位点和17个SSR分离位点。利用获得的分离位点构建得到具有8个连锁群的遗传图谱,其中包括93个SRAP标记和17个SSR标记,覆盖基因组长度884.3 c M,标记间的平均距离在8 c M左右,最小图距达到0.1 c M。因此,本试验构建的图谱在覆盖基因组长度和标记分布密度上都达到了较高水准,能够满足QTL定位的要求。3、鉴定了‘优一’、‘龙王帽’及其杂交群体的98株个体的抗寒性。对作图群体的一年生成熟枝条采取低温梯度（0℃、-10℃、-20℃、-30℃、-40℃）处理,并检测各温度处理下的相对电导率。基于Logistic方程计算,得到两亲本与杂交后代98个单株的半致死温度(LT₅₀),并将各单株的半致死温度与遗传图谱进行连锁分析,初步定位了杏扁抗寒性QTL。共定位了4个抗寒性的QTL位点分别分布在LG2、LG3和LG6三个连锁群上,其中1个QTL与相邻标记紧密连锁,3个QTL与标记共分离,为今后杏扁的抗寒性分子标记辅助选择育种奠定基础。