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提出了一种基于穷举和回溯的自反馈测试生成算法,并在Xilinx Virtex-ⅡPro开发环境下实现了测试生成算法.穷举和回溯算法用软件设......
本文将对反馈节点反馈方法以及测试分组方法进行改进，并用实验论证，证明此法可有效的减少自反馈测试硬件代价。......
自反馈测试方法TVAC在时序电路中的应用研究还处于起步阶段。为此，研究其在同步全扫描时序电路测试中的应用，提出2种测试结构，并对ISC......
近年来,集成电路芯片向着深亚微米、纳米方向发展,其功能日益复杂,集成密度成倍增加。这样的发展趋势一方面使得集成电路越来越精......
随着芯片设计向深亚微米、纳米工艺技术的推进,超大规模集成电路(VLSI)的设计技术水平越来越高,它的特征尺寸越来越小,集成密度和......
随着微电子技术的迅速发展，集成电路的集成度和复杂度不断提高，特征尺寸不断减小，超大规模集成电路技术已经可以在单个芯片上集成上亿......
为保证电子产品的质量,对集成电路进行测试必不可少。随着集成电路复杂程度的不断提高和特征尺寸的日益减小,特别是进入深亚微米以......
集成电路(Integrated Circuit,IC)测试开销很高的原因,一方面是因为大多数IC本身就非常复杂;另一方面是由于IC设计人员往往只对IC......
