提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过将完备测试集分成若干子集 ,由每一子集计算产生子集中测试矢量......

提出一种基于确定性完备测试集的数字集成电路多加权集随机测试生成方法 .通过引入搜索与迭代算法 ,将完备测试集分成若干测试子集......

提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法.通过将完备测试集分成若干子集,由每一子集计算产生子集中测试矢量的......

提出了一种采用扫描选通信号基于扫描的自测试方法.各扫描链所对应的权值可通过该算法计算出.在这种测试模式下,测试响应的收集可......

提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法.通过确定性测试集的分类及随机化,该方法能生成高性能的随机测试多权......

本文介绍了怎样用加权随机图形（ＷＲＰ：Ｗｅｉｇｈｔ Ｒａｎｄｏｍ Ｐａｔｔｅｒｎ）的方法检测一些难测故障，从而可以用尽可能少的测试向量得到最高的测试故障覆盖率。文章对ＷＲＰ和随机......

自反馈测试方法TVAC在时序电路中的应用研究还处于起步阶段。为此，研究其在同步全扫描时序电路测试中的应用，提出2种测试结构，并对ISC......