红外透射光谱相关论文
本文简述了Hg敏化光CVD-SiO2薄膜的原理及方法.在50～200℃条件下,在Si、InSb及HgCdTe晶片上淀积了SiO2薄膜.讨论了薄膜的物理和化学......
目的采用近红外光谱(NIR)法对制川乌提取、浓缩液中的单酯型生物碱类成分(MAs)进行快速定量分析。方法应用近红外透射光谱法搜集10......
基于偏芯熔接技术构建了一种新型马赫-曾德尔干涉(MZI)原理的应力与折射率光纤传感器。该传感器是由一段单模光纤的两端实施偏芯熔......
本文研究胎龄小于32周早产儿母亲母乳中宏量营养素的含量及其与母婴一些特性的可能关系。一、方法母亲分娩2周后开始收集母乳,随后......
采用ACRT B法生长了四元稀磁半导体化合物Mn0 .1Cd0 .9In2 Te4 晶体。采用扫描电镜、X射线衍射仪、ISIS能谱仪、Leica定量金相分析......
针对红外探测器在空间应用中受高能粒子辐照后性能衰退的问题,利用电子束辐照实验,开展了位移损伤对HgCdTe材料红外透射光谱影响的......
采用射频反应磁控溅射法用高纯石墨作靶、三氟甲烷 (CHF3)和氩气 (Ar)作源气体制备了氟化类金刚石 (F DLC)薄膜 ,通过XPS光谱结合......
用剥层霍耳测量分析了ＭＢＥ生长ＨｇＣｄＴｅ薄膜的Ｂ离子注入的电学特性，测量了薄膜材料的载流子浓度和迁移率分布．当剥层腐蚀到结区，结区增透引起红外透......
使用石英晶体微天平(QCM)并结合红外透射光谱(IRTS)研究了海洋大气环境和工业大气环境对金属Zn在薄液膜下大气腐蚀的影响.QCM试验......
利用红外光谱技术区分激光打印、复印墨粉已逐步成为印制文件墨粉检验的常规方法。通过对70余种不同品牌和型号激光打印、复印文件......
为探讨Mg^2＋浓度对Ce：Fe：LiNbO3晶体光谱性能的影响，在Ce：Fe：LiNbO3中掺入摩尔浓度分别为0％、2％、4％和6％的MgO，以提拉法技术生长了Mg：Ce：Fe：LiNbO......
利用傅里叶红外光谱仪测量液相外延生长的Hg1-xCdxTe薄膜，发现未经腐蚀的原生薄膜材料红外透射光谱经本征吸收后有吸收边倾斜并伴有......
橄榄石既是上地幔的主要矿物,又是俯冲板块的主要矿物。在正常地幔温度条件下,橄榄石中原子之间的振动是非谐振动,这已成为学界共......
测量了掺In系列LiNbO3晶体的吸收光谱和红外透射光谱,研究了In离子在掺In系列的固液同成分配比LiNbO3晶体中的占位情况.在In3+的掺......
利用气相外延法生长了Hg1-xCdxTe梯度带隙薄膜材料,通过小光点红外透射光谱测试,研究了材料的横向组分波动.利用多层模型和膜系传......
对红外透射光谱法测定HgCdTe液相外延材料纵向组分分布技术进行了深入的研究．红外透射光谱的理论计算采用了王庆学提出的组分分布模......
在研究用射频磁控共溅射法制备的不同体积含量的Au—MgF2纳米金属陶瓷复合薄膜／Si基片系统的红外光潜特性时发现：薄膜的红外光谱存在......
本文简述了Hg敏化光CVD-SiO2薄膜的原理及方法.在50～200℃条件下,在Si、InSb及HgCdTe晶片上淀积了SiO2薄膜.讨论了薄膜的物理和化学......
MnxCd1-xIn2Te4晶体是一种新型的四元稀磁半导体。有关MnxCd1-xIn2Te4稀磁半导体材料的研究非常有限。本文详细研究了该材料的制备......
为确保运行中的RTV涂料具有良好的防污闪能力,提出一种RTV涂料老化程度评估方法。该方法基于红外透射光谱技术,根据RTV涂料分子结......
采用垂直布里奇曼法,成功生长出大直径Hg3In2Te6（Φ=30mm）晶体。通过傅立叶红外透射光谱测试了晶锭不同部位的红外透过率,并利用X射......
用X 射线双晶衍射、光致发光谱和红外透射光谱研究了CdZnTe 晶体中的Zn 的组分.研究表明透射光谱的Syllaios经验公式结果与X 射线......
随着HgCdTe红外探测器尺寸规模的扩大，晶格匹配的Cd1-yZnyTe衬底组份均匀性越来越受到重视。由于在CdZnTe晶体中Zn的分凝系数大于1，......
<正>加热和干燥是工农业生产中许多部门不可缺少的工艺,所滑耗的能源很多.据估计,仅加热干燥物料一项,消耗的能源约占工业化国家燃......
采用双离子束溅射方法制备氧化钒薄膜,分别利用常规和快速两种升温方式对氧化钒薄膜进行热处理,利用傅里叶变换红外光谱技术对热处......
从理论和样品分析两方面比较了衰减全反射-傅里叶变换红外光谱（ATR-FTIR）技术与红外透射光谱法,并分别用这两种红外技术测定了聚合物......
采用Czochralski方法生长了同成分Er(1%):LiNbO3和In(2%):Er(1%):LiNbO3晶体(摩尔分数)。采用红外透射光谱来研究晶体样品的缺陷结......
