4H—SiC N离子注入层的特性

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研究了在4H-SiC p型外延层上用N离子注入制备n型层的方法及其特性,注入层的浓度分布用蒙特卡罗分析软件TRIM进行了模拟。为了测试注入层的特性,制备了横向肖特基二极管和TLM(transfet length method)结构。测得的N激活浓度为3.0×10^16cm^-3,计算出激活率为0.02。注入层方块电阻为30kΩ/□,电阻率为0.72Ω·cm,并计算出电子迁移率为300cm^2/(V·s)。
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