E 型扩散硅力敏器件的研制

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本文阐述了E型膜片的结构特性,根据其应力分布特点及硅材料在(110)晶面的<111>晶向上具有最大压阻系数,开展了力敏芯片的最佳设计,并进行了E型力敏器件的制作。最后给出了器件的主要技术指标。 In this paper, the structural characteristics of the E-type diaphragm are described. Based on the stress distribution characteristics and the maximum piezoresistive coefficient of the silicon material on the <111> orientation of the (110) crystal plane, the best design of the force- E-type force-sensitive device production. Finally, the main technical specifications of the device are given.
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