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GaN 光电阴极的制备成功与否需用科学手段加以评估。在GaAs 光电阴极多信息量测试系统的基础上,增设紫外光源,并对评估软件重新加以编写,设计出GaN 光电阴极测试评估系统。采用该系统测试了GaN 光电阴极在制备过程中的Cs源电流、O 源电流、光电流、激活室真空度等多个信息量,并利用激活后的光谱响应对阴极进行了评估,实现了对GaN 光电阴极性能的客观评价。