电路可靠性相关论文
随着CMOS集成电路按比例缩小,集成电路设计在CMOS时代的后期面临不断增加的可变性和可靠性问题的挑战。即使在容错应用中,由晶体管......
工艺尺寸的缩减及供电电压的下降,使得节点电容及节点存储的电荷都变小。因此,较小的错误电荷就能使节点的逻辑状态发生变化。由于......
空间辐射环境中的高能粒子会使航天器中的电子器件发生单粒子效应,严重影响航天器在轨运行的可靠性,因此针对单粒子效应的研究是电......
金属卤化物灯(简称金卤灯)由于具有发光效率高、显色性好、使用寿命长等优点,成为现代绿色照明的一种重要电光源,其中小功率的金卤......
本文主要从判断电路参数设计的合理性及电子镇流器与灯管的匹配性两个方面探讨提高节能灯的寿命可靠性问题,与此同时还涉及了灯功......
本文针对SDH网络的安全性进行量化评估,通过概率对SDH网络承载电路的可靠性进行量化估算,将网络规划、维护指标和电路可靠性关联起......
为了有效容忍双节点翻转,提出了一种新颖的22nm互补金属氧化物半导体工艺下双节点翻转自恢复的抗辐射加固锁存器.使用3个互锁的单......
存储测试仪是火炮发射过程中动态参数测试的首选装置,在使用中往往面临恶劣的测试环境,其可靠性是影响测试结果的关键因素之一。通......
针对软差错影响下的电路可靠性问题，选取了TP算法、EPP方法和PTM方法3种门级电路可靠性评估方法，分别介绍其原理，并结合实验指出了它......
随着CMOS集成电路工艺尺寸的不断缩小,电路可靠性问题日益严重,而由NBTI效应引起的电路老化问题尤其突出.由于实际电路大多比较复......
现代工艺的发展使得集成电路在获得高性能的同时,也更容易受到软差错的影响。针对软差错影响下电路的可靠性问题,选取了二种典型的......
针对现有容忍单粒子效应的锁存器结构无法同时容忍单粒子翻转（SEU）、单粒子瞬态（SET）,以及未考虑电荷共享导致的双节点翻转（DNU）问题,提......
在使用数字电压表测量开关电源电路中的电压时，经常会由于人为疏忽出现意外情况。比如，开关电源电路中负责传输反馈信号的光电耦合器......
文中设计了一种以TMS320F28335为控制核心的飞机防滑刹车控制器.在单电源供电的 基础上,设计了电源电路、轮速调理电路和伺服阀驱......
为方便设计人员验证电子电路的可靠性,设计了基于Qt的Verilog故障注入工具。该工具通过语法语义分析器解析Verilog源文件,获得代码......
提出一种深亚微米NMOSFET的热载流子注入下漏电流退化模型及其电路退化仿真方法．该模型将亚阈区、线性区和饱和区的漏电流退化行为......
基于CPLD设计了一种串行数据控制的导弹指令信号产生电路，介绍了电路的实现原理，重点研究了电路的可靠性问题。通过附加D触发器和改......
集散控制系统 (DCS)采用标准化、模块化和系列化设计,采取了许多提高可靠性的措施,如:系统结构采用容错设计,硬件采用冗余配置;提......
针对特大规模组合电路和全扫描设计电路提出了一种高速测试生成方法，该方法采用有限回溯测试模式产生方法生成测试码，采用ｎ（机器字长）个......
作为人类有史以来发展最为快速的工业之一,半导体工业的进步一直依赖于不断缩小的电路特征尺寸,以及随之获得的器件性能和芯片集成......
Intersil公司宣布，推出一款新型电流模式PwM控制器lSL6726.该器件通过功能集成和减少组件数量来帮助简化设计。此外，lsL6726还通过可......
文章分析了集成电路内缺陷成团机理及其对集成电路成品率的影响,应用集成电路成品率预计模型,分析了FPGA内缺陷成团对片内冗余容错......
如今,越来越小的电路板空间,越来越高的器件密度,极其苛刻的布局规则和大尺寸的元件使得设计师的工作更加困难。如果简单的运用传......
电路可靠性容差分析是数/模电路设计与研发过程中的一个重要环节,对于提高产品生产中的成品率,以及使用中的可靠性是十分重要的。......
