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运用ＥＸＡＦＳ技术分别对含有自冷和急冷ＵＳ－ＳＳＹ分子筛的Ｎｉ－Ｗ－γ－Ａｌ２Ｏ３样品中的Ｗ和ＬⅢ吸收边的Ｎｉ的Ｋ吸收边进行了结构分析。结果表明分子筛超稳化后的冷却速率对样品中原子的局域结构有影响，进而影响了样品的催化活性。急冷样品中Ｗ的分散度比自冷样品差，其八面体结构含量较高，并有钨钼氧原子簇产生。