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采用现场动态阻(容)抗法对不同支持电解质溶液中电沉积金铟硒薄膜电极上阴极还原H2O2时产生的电化学振荡行为进行了研究。通过AES有谱和激光扫描电化学测试对振荡前后的电极表面组成及状况的分析发现,电化学振荡能使金铟硒半导体薄膜的光电效应减弱乃至消失,其原因是由于随着振荡进行破坏了金铟硒的半导体结构和半导体溶液界面结构。对振荡机理的研究发现,在以KCl为支持电解质的电化学振荡体系中,由于Clr trf