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在工艺尺寸链中,平面尺寸链较为繁杂,在箱体孔系、斜孔加工及装配工艺中常需解算.本文以微分学原理对尺寸公差进行系统处理,不仅简化了分析计算,而且由于同时考虑了常被忽略的角度误差,极大的提高了计算的精确性和合理性,并由此首次推导出孔系坐标公差的极值法公式和概率法公式,极大的方便了机制工艺人员的工艺工装设计.