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目的分析退化或失效的原因及机理。方法提出电容近炸引信储存性能试验,结合引信组成结构特点和出厂性能要求,对实际储存2~8年的引信开展储存性能检测试验,并对试验结果进行分析,进而确定性能退化敏感参数。结果性能退化原因和机理分析表明,三极管、电阻、电路中导电胶粘结力、电感线圈等长储后性能退化影响引信性能。结论确定了引信长储后检测时应重点关注定时器接电前输入电流、炸高和检波电压三项参数,并着重分析三极管、电阻、电路中导电胶和电感线圈等部位。