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在Heisenberg模型的基础上,采用界面重参数化方法(Interface-rescaling approach),严格求解了简立方结构双层铁磁薄膜中自旋波的本征问题,且主要讨论了外磁场对体系能带结构和自旋波的影响。通过对所选体系进行数值计算和作图发现,外磁场对能带有以下三个方面的影响：(1)随着磁场的增强,子能带A、B都向上移动,且B带移动的速度远大于A带,表明22支模的能量随着磁场的增强都在增加,且B带中模的能量增加的快；(2)体模随横向自旋波γ值的变化基本呈周期性振荡变化,且随着磁场的增加,