对表面注入Au、Sb离子的钛酸锶晶体的热释光和辐射发光光谱的分析研究

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该文分别对钛酸锶样品(STO)经不同种类(Au和Sb)、不同剂量(5×10<13>~1×10<17>ion/cm<2>)离子注入后的热释光谱和辐射发光谱进行了研究.通过对各样品热释光谱的分析,并用Peakfit5.0对TL发光峰的陷阱深度和频率因子等进行了计算,发现未掺杂STO样品主峰光谱可以分为三个带,主峰温度在125K左右;经离子注入后,主峰温度升高、陷阱变深,说明离子注入改变了陷阱深度,同时可能也改变了陷阱的数目.但是高浓度注入和低浓度注入掺杂样品陷阱变化的方式不同,低浓度注入掺杂样品陷阱变深的幅度更大,而且主峰光谱整体发生很大变化,很难确定叠加的发光带的数目和中心波长.另一方面通过对样品辐射发光谱的分析,则发现STO样品经高浓度Au或Sb离子注入后,光谱发生显著变化.红外光带随温度变化规律出现异常,其发光强度在37K附近迅速降低,70K附近又迅速升高;高浓度注入掺杂样品低温下还出现了紫外和可见光带,且紫外和可见光带在37K和70K附近发光强度迅速降低.推测可能是高浓度注入掺杂样品在37K和70K左右发生了结构变化或相变.由此推断表面离子注入改变了缺陷能级等深层结构参数,具有整体效应.
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