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本文采用磁控溅射方法制备了基于多晶氧化锌(ZnO)薄膜的紫外光电探测单元并在空气氛围下对样品进行了光电导和低频电流噪声测试.实验发现ZnO薄膜中的低频噪声谱具有1/f α特征(1<α<1.2),这一结论在黑暗或紫外光照下都是成立的.相同偏压(0.3V)下,紫外光照下ZnO薄膜的相对噪声水平SI/I2比没有光照时高将近一个数量级,我们将其归结为由晶界势垒涨落导致的额外噪声.