ACSemu:一种面向超大规模SoC验证的可扩展FPGA模拟平台

来源 :第十七届计算机工程与工艺年会暨第三届微处理器技术论坛 | 被引量 : 0次 | 上传用户:catscafe
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
  快速有效的大规模复杂SoC(System-On-Chip)芯片逻辑验证方法已成为SoC芯片设计中的关键因素。利用FPGA进行逻辑验证是一种较为传统的验证方法。随着SoC芯片复杂度和规模不断增加,验证所需的FPGA芯片规模也与日俱增。然而利用大规模单芯片FPGA并不能有效满足复杂SoC验证的需要,并会造成极大的额外开销,严重限制模拟平台的设计灵活性。针对这一问题,本文提出一种基于多片FPGA的可配置硬件模拟环境,构建以ARM Cortex-A9微处理器为核心的大规模复杂SoC验证平台,实现复杂SoC的软-硬件系统级模拟。最后利用SoC内部总线板间互连技术对ARM SoC内部的AXI总线接口逻辑进行板间扩展和延伸,提高模拟平台的可扩展性。
其他文献
霍思曼(1859-1936),英国现代最伟大的古典学者之一和杰出的诗人。在这首诗中,霍思曼巧妙地将“情伤”具体化,又将它“买卖”,以此来表达在爱情中,总是爱意更浓的那一方投入更多,也因此
  高性能计算机计算性能的不断提升和新一代天气雷达网的建立为风暴尺度数值预报的研究提供了条件.本文利用集合卡曼滤波(EnKF)在WRF模式中同化模拟多普勒雷达径向风资料,
  本文提出了一种基于异步物理层的PCIe接口芯片FPGA验证技术,通过在PCIe接口与Serdes之间插入异步物理层接口,补偿物理链路与PCIe接口的频率差,解决PCIe接口逻辑综合到FPGA中
  随着微处理器设计规模和复杂度的增加,传统的硅前验证难以发现所有的错误,需要在硅后验证阶段发现和定位问题。针对硅后验证中测试激励生成复杂、速度慢、冗余度高等问题,本
  旋转不变性是图像匹配的难点。本文提出了一种基于矩确定主方向以获取局部特征旋转不变性的方法。该方法基于一阶中心矩的不变性,通过积分运算获得特征区域的主方向。该方
化学镀镍赋予了材料表面特殊的理化性质,而被广泛应用于化工、航空航天、机械、仪表、计算机等领域。未经钝化的镀层存在孔隙,致使镀件耐蚀性差而直接影响了镀件的产品质量和
  本文提出了基于FPGA设计的数据通路测试中,嵌入错误和延迟检测逻辑进行检测的方法。这种方法有效解决了通过chipscope或逻辑分析仪直接观测输入输出信号时,观测难度大、信
  不同于以往高斯尺度空间或近似高斯尺度空间,本文基于加性分裂算子快速创建非线性尺度空间,在图像细节信息保持性能上有所提高。利用Bhattacharyya系数描述两个有向梯度直
  An IC-level electrostatic discharge (ESD) test method to test the power-up chip is introduced in this paper.The power-up ESD (PESD) test results can be clas
会议
  随着SoC设计集成度越来越高,功能也更加复杂,SoC芯片的调试也变得更加具有挑战性。本文提出了一种基于总线与JTAG协议的调试系统的设计方法,在不修改其它电路模块的基础