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门阵列集成电路相关论文
GaAs中Se离子注入技术研究
采用室温下Se离子注入半绝缘GaAs衬底,通过优化注入能量、剂量、注入角度及快速热退火温度、时间,获得高剂量下(1×10〈’3〉cm〈’-2〉.200KeV),杂质激活率大......
会议
载流子浓度分布
离子注入
门阵列集成电路
载流子迁移率
注入能量
退火温度
高剂量
注入层
室温下
激活率
超高速
半绝缘
杂质
优化
速热
衬底
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