特征X射线相关论文
基于狭义相对论的基本观点,研究了特征X射线的产生机理,分析了电子自旋轨道耦合对特征X射线波长的影响,导出了一个计算特征X射线波......
低能正负电子致原子内壳层电离截面的测量研究在理论和实际应用方面都有着重要意义。在理论研究方面,目前已提出的相关理论模型需......
简要分析了高功率Z箍缩产生keV级特征X射线辐射的物理机理和用于计算等离子体K层辐射二能级模型,描述了"强光一号"装置驱动Z箍缩......
在以氢气放电源打钆靶为例,分析氢气放电源打靶谱时,发现有以下几类谱线:源谱、靶材料的特征X射线、衍射谱线和一些未知谱线。根据......
该文简要介绍了利用一套HPGeγ谱仪对特征X射线进行刻度时出现的振荡问题,以及对该问题所进行的理论探讨和实验研究;同时还提出了......
用高电荷态离子129Xeq+(q=25,26,27)轰击金属Au表面,产生Au原子的特征X射线谱.实验结果表明,足够高的电荷态低速离子激发靶表面原......
分析了高功率Z箍缩产生keV级特征X射线辐射的物理机理和用于计算等离子体K层辐射二能级模型,给出了采用二能级模型进行数值模拟的......
A semi-empirical detector response function(DRF)model is established to fit characteristic X-ray peaks recorded in Si-PI......
用能量0.8-2.0MeV质子束轰击元素Ta、Lu使其电离,通过测量特征X射线的角分布,得到了L亚壳层原子顺排因子A2和特征线Ll的极化度P,实验结果和PWBA理论进行了比较。......
由于设计的需要,利用铜靶、铁靶进行了特征X射线的产额与靶源的距离、靶源夹角关系的实验研究,当靶源距离越近、靶源夹角为70°时......
Geant4以其快速,方便,灵活的特点在核技术研究中得到了广泛的应用。本文通过利用Geant4,对基于X荧光涂层厚度测量方法,主要对激发......
介绍双阳极X射线源,分别以铝(Al)和镁(Mg)作为阳极靶,整体集成在一个CF35超高真空刀口法兰上,结构紧凑.经过性能测试,获得了激发电流、......
介绍了电子探针无损测定黄金饰品成色的方法.研究结果表明该方法能无损、快速、准确地测定任何成色、任何形状的黄金饰品并具有操作......
用Si(Li)探测器实现了Na、Mg、S、Cl的特征X射线在有机膜中的相对衰减以及与O、K元素的特征X射线能量相当的X射线或轫致辐射在有机膜中的相对衰减,分别......
本文主要介绍了利用同位素X射线荧光分析方法在陕西青铜沟汞锑矿对汞锑元素分析的方法研究与应用效果.阐述了如何用X荧光分析方法......
根据X射线光谱学理论和生物学X射线显微分析研究经验,详细地讨论了生物X射线显微分析中可能出现最小峰、逸出峰、重叠峰、外来峰和合峰......
分析了在用天然放射性232Th衰变系的低能X射线进行HPGe γ谱仪的效率刻度时出现系统偏差的原因,并就此对实际应用中应注意的问题进......
以直流X射线光机为基础,利用元素具有特征X射线和吸收边的原理,通过设置荧光靶、滤光片,滤除不同元素K层特征线中的K_β线,研制了......
利用同步辐射X射线微束聚焦荧光光谱法,对新疆玉龙喀什河、塔什库尔干县、且末县3个不同地域的20种玉石样品中的微量元素种类及其......
一直以来,X射线谱的准确测量十分困难,而传统的能谱仿真方法无法全面的考虑射线产生过程中的所有物理过程,因而无法准确的模拟射线......
论述了透射式特征X射线测厚原理,并对样机的硬件组成特征X射线发生装置、X射线探测器、数据处理器和监控软件进行了介绍。通过对测......
X射线荧光光谱法的基本原理是当物质中的原子受到高能辐射的激发后,发射出该原子所具有的特征X射线。根据探测到该元素特征X射线的......
利用能谱仪(energy dispersive spectrometer, EDS)及蒙特卡罗方法(Monte Carlo method)确定金(Au)镀层厚度.使用不同加速电压对试样表面......
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按照光谱术一般定义,同步辐射光谱术就是用同步辐射轰击样品,激发样品各元素的特征X射线,或与样品发生交互作用时产生各种信号,接收探......
蒙特卡罗模拟技术可以有效提高核辐射探测分析效率、降低分析成本,在促进X荧光分析技术发展过程中也发挥了重要作用。在应用蒙特卡......
原位能量色散X射线荧光现场分析岩样矿物成分时,岩样基体效应会对测量结果产生影响。本文以Cu元素作为待测元素,研究了17种不同岩......
特征X射线是电子探针分析的主要信息,根据特征频率(或波长)就可以识别样品中存在哪种元素,这是电子探针定性分析的基本原理.在定性......
在论述X射线与特征X射线的产生的基础上,用量子理论分析了连续X射线谱与特征X射线谱产生的机理。结果表明,特征X射线的波长是由阳极......
硅漂移(SDD)探测器是一种基于侧向耗尽原理的核辐射探测器。这种探测器因为比一般Si(Li)探测器输出电容小、电子噪声小、且只要简......
随着工业上表面处理工艺的发展和提高,许多机器和仪器的构件以及装饰物表面都涂上一层涂料,涂层厚度的控制一直以来都是产品的一项......
为了探究金属特征X射线空间角分布,采用蒙特卡罗(Monte Carlo)方法模拟238Pu源照射金属样品激发特征X射线过程,通过改变放射源的入射......
介绍了用特征X射线自动测试纸张厚度的计算机测量系统的基本构成、系统功能.并用C++builder设计了软件系统.系统读取硬件传送过来的......
随着材料科学的发展日新月异,纳米物质在材料领域的应用愈加广泛。由于纳米材料具有突出的表面效应、小尺寸效应和量子限域效应,因......
A New 3D Supramolecular Network Formed by [Zn_3(2,6-Pyridinedicarboxylate)_3Cl_4]~(4-)and 4-Carboxyp
A new compound [Zn3(C7NO4H3)3Cl4]·[C6NO2H6]4·4H2O (I) has been synthesized and structurally characterized by X......
分析了高功率Z箍缩产生keV级特征X射线辐射的物理机理和用于计算等离子体K层辐射二能级模型,给出了采用二能级模型进行数值模拟的结......
在氢气放电源打靶的实验中,测到了系列能量恒定不变的低能X射线新谱线,这些新谱线的能量分别为(1.70±0.10)keV,(2.25±0.07)k......
目前,扫描电子显微镜-能谱(SEM-EDS)联用技术在分析测试领域已得到广泛应用,它可对材料和生物样品的微观表面进行形貌观察,并对样品......
本文介绍了一种用电子探针波谱仪对元素化学状态进行定量分析的方法:分析元素不同化学状态相关特征X射线的差异,选取有代表性的波......
为研究微型X射线管的特性,通过电离室测量光管出射口30cm远处的空气比释动能,使用高纯锗探测器分别测量了Ag过滤和Cu过滤下的X射线能......
测量了由中心能量为13.1 keV的韧致辐射轰击金纳米颗粒所产生的L系特征X射线,探测器在100°到140°范围内,以10°为间......
为研究爆炸物示踪安检技术,以各类工业炸药为基体,均匀混合微量示踪剂,采用能谱检测方法,通过探测示踪元素的特征X射线,对示踪剂质......
微区能量色散X射线荧光光谱仪(μ-EDXRF)是进行物质微区成分分析和元素分布分析的工具,在定性和半定量分析中发挥着重要的作用,被广......
扫描电子显微镜是一种微观形貌表征手段,具有视野大,分辨率高等优点。本文对扫描电子显微镜的二次电子、背散射电子及特征X射线三......
采用中心能量为13.1 keV(最大能量小于30 keV)的轫致辐射光子碰撞Au靶,在130°—170°的探测角度范围内以10°为间隔,......