采用磁控溅射法在Si（100）、Si（111）和玻璃基片上原位沉积MnZn铁氧体薄膜,用X线衍射（XRD）仪、场发射扫描电子显微镜（FESEM）表征薄膜的物相结......

采用射频磁控溅射法在Si（111）基片上沉积了MnZn铁氧体薄膜,用X射线衍射仪（XRD）分析薄膜的物相结构,用振动样品磁强计（VSM）测量薄膜面内饱......