测试产生相关论文
集成电路(integrated circuit,IC)测试是IC产品制造过程中不可缺少的环节。它既要保证IC芯片的正确逻辑,又要保证IC芯片在规定的时......
提出了有限状态机的行为阶段和行为阶段聚类的新概念,它是介于有限状态机的行为级描述和低层描述(状态表或状态图)之间的一种新的......
瞬态电流测试（IDDT Testing）作为传统电压测试和稳态电流测试（IDDQ Testing）方法的一个补充，越来越受到研究领域和工业界的关注。针对不......
针对瞬态电流测试提出了一种测试产生算法。该算法利用改进FAN算法的反向蕴涵部分激活故障并将测试向量空间映射到混沌空间,采用混......
始于90年代的瞬态电流测试（IDDT Testing）法可以检测出传统的电压测试法和稳态电流测试法所不能检测出的集成电路故障。瞬态电流测试......
在基于逻辑电路的布尔推理过程中 ,经常用到二叉判决图 (BDD)与布尔可满足性 (SAT)相结合的算法 由于电路宽度能很好地反映电路的......
自动测试产生(ATPG)不仅应用于芯片测试向量生成,也是芯片设计验证的重要引擎之一.提出了一种组合电路测试产生的代数方法,既可作......
在不考虑冒险的情况下,对于CMOS电路中的开路故障,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性.定义了三种不同的D前沿,并将测......
With the redesigned jigs for the Thermecmastor-Z thermal simulator,the feasibility of using 3 kinds of Gleeble specimens......
为保证电子产品的质量,对集成电路进行测试必不可少。随着集成电路复杂程度的不断提高和特征尺寸的日益减小,特别是进入深亚微米以......
随着集成电路的集成度、规模以及复杂度呈现出几何级数的增长,测试所需的费用越来越昂贵。这些都给电路测试带来了极大难度,同时也......
集成电路的低功耗设计是当前集成电路研究中的一个重要课题。冒险分析对于集成电路的低功耗设计和保证电路正常工作均具有至关重要......
随着集成电路测试技术的不断发展,瞬态电流测试(IDDT Testing)作为传统电压测试和稳态电流测试方法的一个补充,越来越受到研究领域......
