失效阈值相关论文
本文简要介绍了三端稳压器的中子辐射损伤的机理和辐照试验方法。重点研究了三端稳压器在不同输入电压和不同输出负载测试条件下，输......
通过对涂层进行单脉冲激光加载时产生的冲击应力与温度场的理论分析,提出以二分法迅速逼近涂层失效的激光功率密度范围,单脉冲激光......
继电器作为一种电气控制元件,在工业领域如自动控制、通信、遥感、电力电子和机电一体化中得到了广泛的应用。在继电器的工作过程......
当产品处于运行状态时,会受到各种外界因素的影响,例如冲击载荷、侵蚀等等。通常体现在以下两个方面:其一,产品的性能会随时间的推......
针对航空发动机健康监测数据繁杂、性能退化特征不明显、缺乏有效的健康指数构建与剩余寿命预测难的问题,提出了基于灰色理论的多......
期刊
针对一种基于32位ARM微控制器的试验电路，研究其瞬时电离辐射效应和电离总剂量辐射效应.在"强光一号"脉冲加速器上进行了γ瞬时......
提出了产品在退化状态下的可靠性分析问题,通过建立产品退化失效模型与失效阈值,解决了有正常退化数据的产品可靠性问题.在此基础......
用脉宽为60fs、波长为800nm的飞秒激光辐照CCD,研究了CCD在飞秒激光作用下的失效问题.实验得到了飞秒激光作用下CCD的失效阈值为4.......
033 短期高脉冲电流应力下的接触和通孔失效的特性表征 (ＣｈａｒａｃｔｅｒｉｚａｔｉｏｎｏｆＣｏｎｔａｃｔａｎｄＶｉａＦａｉｌｕｒｅＵｎｄｅｒＳｈｏｒｔＤｕｒａｔｉｏｎＨｉｇｈＰｕｌｓｅｄＣｕｒｒｅｎｔＳｔｒｅｓｓ)——— 1 997Ｉｎｔｅｒｎａ ｔｉｏｎａｌＲｅ
033 CharacterizationofContactandViaFailureUnderShor......
针对加速寿命试验对长寿命产品可靠性评价的不足，采用加速退化试验的方法对智能电能表进行可靠性评价。通过分析影响在运智能电能表......
利用退化试验进行高可靠长寿命的产品可靠性分析是一条行之有效的途径。基于产品性能退化量,根据绝对和相对失效标准下的产品寿命,......
提出基于紫外光谱法的油液监测方法，通过试验研究润滑油的主要理化指标酸值与其紫外吸光度之间的变化规律，建立紫外吸光度的威布尔模......
对长期贮存一次使用的设备元器件采用性能退化方法评定其可靠性，该方法大多采用对各时刻的测量数据进行统计分析得出相应的可靠度再......
为了预测电子系统的重要器件——功率MOSFET剩余使用寿命,基于NASA实验数据,提出了一种MOSFET剩余寿命预测方法。首先利用相关向量......
Remaining useful life estimation based on Wiener degradation processes with random failure threshold
Remaining useful life(RUL) estimation based on condition monitoring data is central to condition based maintenance(CBM).......
作为可靠性领域传统的数学工具,概率论难以解决现代可靠性工程面临的难题。本文以不确定理论在退化数据分析中的应用为切入点,阐述......
用脉宽为60 fs、波长为800nm的fs激光辐照电荷耦合器件,研究了电荷耦合器件在fs激光作用下的失效问题.实验得到fs激光作用下电荷耦......
针对滑环失效数据较少的特点,构建导电滑环磨损失效模型,结合小子样数据处理法和随机性理论对滑环摩擦副进行可靠性评估研究。首先......
为了探索半导体桥(SCB)火工品在静电环境下的作用机理、易损特性和评估方法等,为SCB的静电防护提供有效的参考依据,使其更好的适应......
针对断路器机构系统具有磨损试验小子样、失效阈值不固定、试验成本高的特点,通过模拟仿真试验法、小子样数据处理法、随机性理论,......
基于退化数据具有比失效时间数据更多的可靠性信息,为高可靠、长寿命产品提供了一种有效的可靠性分析方法,为此对退化建模领域的相......
现有可靠性理论对产品进行可靠性评估,须依据产品的失效数据进行,然而,随着产品的可靠性越来越高,寿命越来越长,在允许的时间内很......
对 6 0飞秒 80 0nm激光辐照下硅PIN光电二极管的信号饱和、损伤及失效进行了实验测量。实验得到硅PIN光电二极管的失效阈值为 1.2J......
硅半导体材料在集成电路与光电探测器的制造上有着广泛的应用。近年来,硅半导体器件尺寸不断变小,目前已经缩小到了纳米尺度,载流......
为对同时存在退化过程和冲击过程的系统进行可靠性分析,建立了突发型失效与退化型失效共存的系统可靠性模型.考虑退化过程和冲击过......
