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随着工艺的进步，片上系统使用多核与众核是未来发展的一种趋势，传统的二维网格(2D-mesh)型拓扑结构通信效率低、功耗和时延大等缺点......
扫描链阻塞技术可以有效地降低电路测试时的峰值和平均功耗,但是扫描测试应用时间有所增加。为了解决这一问题,通过有效利用测试向......
随着集成电路制作工艺的进步,多核与众核系统是片上系统的发展趋势.传统的二维网格（2D-mesh）型拓扑结构通信效率低、功耗高和时延长......
为进一步降低测试功耗及测试应用时间，提出一种基于扫描链阻塞技术且针对非相容测试向量的压缩方法。该方法考虑前后2个测试向量之......
扫描链阻塞技术可以有效地降低电路测试时的峰值和平均功耗，但是扫描测试应用时间有所增加。为了解决这一问题，通过有效利用测试向量......
针对时延测试功耗和测试费用较高的问题,提出一种低费用的轮流捕获时延测试方法。采用扫描阻塞技术,将被测电路中的所有扫描单元分......
为了保证集成电路产品的质量,测试是非常重要的一个环节,然而随着被测电路变得日益复杂,集成度不断提高,测试变得非常困难,测试成......
随着集成电路在日常生活中的广泛应用，集成电路测试作为保证产品质量的重要环节，越来越受到人们的重视。然而随着集成电路规模增大，集......
测试能够有效地保证电路的可靠性,是集成电路产业链——设计、制造、测试、封装中必不可少的一个环节。随着半导体工业的发展,测试......
