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吉时利仪器公司发布新的S510半导体可靠性测试系统。是高通道测量的完整方案.用于先进65nm节点及更小尺寸的ULSI CMOS过程工艺的可靠性测试和寿命。它提供了晶圆级可靠性(WLR)测试的高吞吐速率和高度的灵活性。减少评估可靠性和完成寿命建模的时间.从而减少项目的技术研发和工艺过程开发的耗时,