纳米硅/晶体硅异质结电池的暗I-V特性和输运机制

来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zhuzhugugulili
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采用HWCVD技术在P型CZ晶体硅衬底上制备了纳米硅/晶体硅异质结太阳电池,测量了晶体硅表面在不同氢处理时间下的异质结的暗I-V特性和相应的电池性能参数.室温下的正向暗I-V特性采用双二极管模型来拟合,可将0~1V的电压范围区分为4个区域:旁路电阻(0~0.15V)、非理想二极管2(0.15~0.3V)、理想二极管1(0.3~0.5V)和串联电阻(〉0.5V).拟合结果表明,适当的氖处理时间(~30s)可有效降低非理想二极管的理想因子n2,即降低界面复合电流,表明具有好的界面特性.对于282~335K的暗
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