随着片上系统(System-on-Chip,SoC)中所包含的IP(Intellectual Property,IP)核数目剧增,借助计算机网络通信思想而形成的片上网络(Network-on-Chip,NoC)通信结构在并行通信等方面展示了其优于总线通信结构的本质和属性,它为集成电路今后的设计技术指明了方向。NoC路由器作为NoC体系结构中数据交换的关键节点,它的好坏对 NoC能否正常工作有很大影响,因此如何实现很好的对 NoC路由的测试对加快NoC设计进程有着重要的意义。然而,寻找NoC路由测试矢量最优传递路径问题,在多项式时间内很难得到其确定解,因此研究新方法来求解 NoC路由测试矢量最优传递路径难题具有重要的理论和现实意义。　　本文首先分析了 NoC路由测试国内外的研究现状,并针对 NoC路由的结构把NoC路由测试划分为路由逻辑的测试和路由内部输入输出缓冲区(Frist In Frist Out,FIFOs)的测试两部分,接着针对这两部分测试分别给出了相应的故障模型,分析了相应的测试结构。对于 NoC路由测试中的测试矢量传递路径优化问题,本文构建了相应的数学模型,引入了量子遗传寻优算法(quantum genetic algorithm,QGA),并基于此来寻找出最佳的测试矢量传递路径,以达到在测试时间上的优化。　　最后,本文以三组不同规模的SoCIN(System-on-Chip Interconnection Network)芯片为实验对象,选取优化的经验值作为参数初始值,展开 NoC路由测试矢量传递路径寻优实验。仿真实验结果表明,本文的测试方法适应2D-Torus拓扑结构的要求,得到了较优的测试矢量传递路径,而且算法收敛速度快,与其它 NoC路由测试方法相比较,本文方法得到了较短的测试时间,提高了NoC路由测试的效率。