电路板板载元器件自动光学检测是电子行业产品检测领域一个重要的研究课题。它旨在对采用微型化元器件的高密度电路板上的元器件非接触地高速、高精度识别与缺陷检测，从而克服人工检测劳动强度大、可靠性差(易发生漏检和误检)等缺点，提高电子产品质量与生产效率。 本文对电路板板载元器件自动光学技术的现状及发展进行研究，并在对检测系统的各个构成部分进行研究的基础上，构建了简单的检测系统。 针对PCBA图像存在的光照不匀问题，采用改进的同态滤波方法进行图像预处理：对目标图像进行多层小波分解，对各层高低频系数滤波处理，减弱低频系数，增强高频系数，然后进行小波重构，从而达到光照不均校正的目的。结果证明该方法在AOI系统中具有很强的实用性。 基于电路板Mark点特征，改进Hough变换定位方法，减少参与运算的点数及维数，快速定位Mark点标记。实验表明该方法定位准确，运算时间大大降低。 在特征数据库建立方面，依据CAD设计数据文件导出元器件位置报表文件，在该文件基础上添加特征项，构成特征数据库。该数据库包含元器件名称、型号、坐标、贴装角度、元件特征等信息，易于实现元件快速定位分割、类型识别及缺陷检测，大大提高了检测系统的实时性。 最后，利用模式识别方法进行元件识别与缺陷检测。