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覆盖阵列CA(N；t，k，v).是在某v元集V上取值的N×k阵列.它的每一个N×t子阵列的行向量覆盖Vt中每个向量至少一次.这里：参数N，t，k和v分别称为该覆盖阵列的大小.强度，度和阶.利用CA(N；t，k，v)作为测试方案进行试验，从测试结果中可以判断强度不超过t的交互错误是否存在，但不能确定出产生交互错误的因子.
2008年Colbourn和McClary根据基于组件的计算机软件测试的需要.提出了一个新的组合对象.叫做检测阵列.粗略地说.检测阵列(d，t)-DTA(N；t，k，v)是具有检测和定位功能的特殊CA(M；t，k，v).利用(d.t)-检测阵列作为测试方案进行试验.从测试结果中不仅可以定位出d个强度为t的交互错误.而且能够检测是否多于d个强度为t的交互错误.
最近，Shi，Tang和Yin对检测阵列的最优性和构造做了系统的研究.他们找到了判断最优检测阵列的准则，并由此证明了达到下界的最优检测阵列和超单正交阵列之间的等价性.
基于上述等价关系，本文通过可划分的超单差矩阵等工具，将经典的差矩阵构作正交阵列的方法加以推广，建立了最优检测阵列的若干构作方法.由此基本解决了度为5，强度为2的最优检测阵列的存在性问题.