论文部分内容阅读
可靠性试验贯穿于新产品的研制、定型及批量生产过程中．一般来说可靠性试验时间较长，费用较大．在许多情况下不允许等到所有试验品都发生失效(故障)，此时可靠性试验就可能出现许多截尾数据，即在所试验的产品中有些发生失效(故障)，另一些没有失效．故在无重复试验的饱和析因设计中，由于在分析这类数据时没有多余的自由度可用于估计误差方差，因而不能采用标准的方差分析法．由此可见研究试验指标服从截尾正态分布的一些饱和析因设计数值分析法尤为重要．本文采用蒙特卡洛方法模拟研究了五种典型的饱和析因设计数值分析法，其在采用二水平析因设计时，试验指标分别在不同值处截尾时服从正态分布下检验的势及错误率表现.