随着集成电路的制造技术持续地发展,使得其规模越来越大,工作时钟频率也快速增长,单个片上系统中可以集成数量更多、功能更全、工作更复杂的IP核。这样以总线架构实现片上通讯的片上系统(System-on-a-Chip, SoC)已经无法适应未来集成电路技术的发展。这时,片上网络(Networks on Chip, NoC)作为一种全新的片上通讯概念被提出来了。片上网络良好的可扩展性和并行通讯能力可以很好满足集成电路新设计的要求。片上网络采用大规模电路复用的设计技术将会大大提高芯片的生产效率、显著缩短芯片开发周期、加快芯片上市时间。在片上网络的实现过程中,对其测试已成为非常关键的一个环节。而片上网络的提出是为了将其应用于更大规模的集成电路,测试功耗必将会很大,因此控制测试功耗将变得十分重要,这是因为过大的测试功耗可能导致局部或整个网络的损坏。本文重点介绍了片上网络的一些测试方法,并针对2D Mesh网络的通讯架构提出一种低功耗测试方法,以及基于其路由器中的固定端口故障提出一种低功耗测试方法。本论文的主要工作如下:(1) SoC的发展简介,以及当前所面临的问题;介绍了片上网络的提出、发展以及其研究现状;片上网络通讯架构的基本组成和拓扑结构。NoC测试方法的研究动态,NoC低功耗测试的意义和针对2D Mesh结构低功耗测试的发展。(2)提出一种针对NoC通讯架构的测试方法。在2D Mesh结构中测试中,转发数据包数多少与测试功耗成正比,本方法分析了2D Mesh这种结构的特点,在逻辑上对其进行划分,对网络中处于不同位置的通讯节点采用相应的数据转发方式,重点减少中间节点数据包的产生。从而降低了总测试功耗。实验数据表明,该方法能有效地降低通讯架构的测试功耗,且测试时间也得到了有效的缩短。(3)基于2D Mesh结构中的固定端口故障模型,提出一种低功耗测试方法。该方法专门针对2D Mesh网络中路由器所出现的固定端口故障,以降低检测时的功耗为重点,通过减少网络中重复测试的情况。该方法能有效地检测出各种类型的固定端口故障,同时总测试功耗也得到很大的降低。