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ADSP-TS101S γ瞬时辐射效应初步试验研究
ADSP-TS101S γ瞬时辐射效应初步试验研究
来源 :第八届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:aajilin
【摘 要】
:
本文从数字电路瞬时电离辐射损伤机理分析入手,围绕数字信号处理芯片ADSP-TS101S设计了一个最小系统,主要测试TS101S在γ射线瞬时辐射环境下工作的稳定性和可靠性,经过初步试
【作 者】
:
刘生东
张力
崔帅
【机 构】
:
中国航天科技集团公司,一院十四所,北京9200信箱76分箱6号,100076
【出 处】
:
第八届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会
【发表日期】
:
2005年期
【关键词】
:
瞬时辐射效应
数字信号处理芯片
最小系统
数字电路
试验研究
机理分析
辐照效应
辐射损伤
辐射环境
电离
稳定性
可靠性
γ射线
设计
基础
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本文从数字电路瞬时电离辐射损伤机理分析入手,围绕数字信号处理芯片ADSP-TS101S设计了一个最小系统,主要测试TS101S在γ射线瞬时辐射环境下工作的稳定性和可靠性,经过初步试验研究,对TS101S的瞬时电离辐照效应有了基本的了解,为以后进一步研究工作奠定了基础.
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