厚膜电阻例行可靠性实验噪声特性研究

来源 :第十四届全国混合集成电路学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:xiaokexiaoai1314
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本文通过厚膜电阻器例行可靠性实验中噪声测量和分析,与常规测量参数的对比,探讨了噪声用于厚膜电阻器例行可靠性实验表征的可行性.
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