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本文对集成电路连接性测试的失效现象进行了描述，对连接测试失效的原因进行了探讨,指出导致连接性失效的多种可能原因。
集成电路连接测试失效原因探讨
【摘 要】
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本文对集成电路连接性测试的失效现象进行了描述，对连接测试失效的原因进行了探讨,指出导致连接性失效的多种可能原因。
【机 构】
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北京微电子技术研究所 100076
【出 处】
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2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会
【发表日期】
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2010年7期
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