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在超深亚微米工艺下，长总线时延成为了影响系统整体性能的重要因素。然而，电路中寄生元件作用日益显著，严重的串扰效应，使得总线的实际......
指令级测试在当今测试领域正显示出越来越重要的应用价值，随着设计的复杂度日渐增大电路频率不断提高，集成电路的测试面临更加严峻的......
有效地给出了一种新的基于软件自测试的串扰故障渐进式激励检测模型实现，这种基于软件自测试的检测方案是利用SOC中的处理器核的计......
以ＣＷＴＣＡＤ软件为例，介绍了大型软件开发过程中如何进行软件的测试设计、测试实施和测试分析。......
多跳变(MT)故障模型是一种有效的总线串扰故障模型,可以测试由电容和电感导致的串扰故障,但是MT的原始测试集存在严重的向量冗余.......
随着当今科技的发展,集成电路的功能日益强大,制造成本也控制在比较低的水平,与之相对的测试技术的成本却在不断地增加。很显然传......
与集成电路（ASIC）性能日益强大、制造成本日益低廉相反,测试成本在不断增加,传统的测试技术已经不能满足高速、多时钟SOC芯片的测试......
