确定性自测试相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

确定性自测试相关论文

SOC设计中IP核的测试方法与应用

随着半导体工艺的进展和设计水平的提高，芯片设计业已进入了SOC(系统级芯片)时代。单个芯片上集成了更多数量的晶体管，能够完成更加......

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SOC IP复用可测性设计内建自测试确定性自测试自动向量生成线性反馈移位寄存器伪随机向量生成多输入鉴别码

面向数字系统的确定性自测试与延迟故障测试

集成电路测试是微电子领域中一个日益重要的问题。可测性设计尽可能早的在集成电路设计时考虑测试问题。内建自测试设计(BIST)是可......

学位

可测试性设计确定性自测试路径延迟故障测试

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