状态机拆分相关论文
针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误可能成为芯片失效的重要原因,提出了一种交替互补的双状态机自恢复结构,该结构将原始状态......
针对集成电路特征尺寸进入纳米级后软错误率持续攀升的问题,本文以状态机拆分和三模冗余令牌为基础,提出更为可靠的自恢复控制器结......
文章介绍了一种根据芯片内部数据流流向原则对状态机进行拆分的方法,并给出了这种设计方法的具体设计模型.这种设计方法适应当今集......