随着电路板集成度的不断提高,传统测试方法已经难以满足高密度电路板的测试需求,边界扫描技术的出现为解决高密度电路板的测试问题......

描述了可满足性的测试向量生成（ＳＡＴ－ＡＴＰＧ）算法，针对此算法的不足提出反向路径敏化算法（ＢＰＳ）嵌入ＳＡＴ－ＡＴＰＧ中，减少了ＣＮＦ的构成时间和搜索空间，而且减轻故障压缩的工......

描述一种新的健合高效的测试向量自动生成方法－测试向量生成的可满足性算法。与现有的测试向量生成算法相比，满足性算法是一种有效改......

本文描述了可满足的测试向量生成 (ATPG)算法 ,对可满足的测试向量生成算法的不足 ,提出改进的全局蕴涵及唯一确定值的计算 ,来简......