报道了用ＳＴＥＭ（扫描透射电子显微镜）对ＧａＩｎＡｓＳｂ／ＧａＳｂ异质结的截面不同部分进行分析和研究的实步结果。ＳＴＥＭ图像表明，在四元合金ＧａＩｎＡｓＳｂ与衬底ＧａＳｂ的晶格常数不相同时，将会......