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容错设计技术是提高计算系统可信性的重要措施。高能粒子辐射引起的软错误曾被认为是影响宇航电子用品可靠性的首要因素。随着集成......
文中给出一种容软错误高可靠微控制器FT51．首先它具有基于异步电路的时空三模冗余结构，采用此结构可以对时序逻辑单事件翻转（SEU）和组......
工艺尺寸进入纳米工艺后，数字电路的可靠性面临高能粒子效应、延时故障、器件老化等方面的威胁．提高可靠性，同时也面临着面积、延时、......
随着工艺尺寸的逐渐缩小，集成电路中由放射性粒子引起的软错误不断增加，在设计时必须考虑由软错误引起的可靠性问题。使用软错误免疫......
