级联电压开关逻辑门相关论文
随着集成电路工艺进入微纳尺度，组合逻辑电路的软错误率不断增加，电路的可靠性受到严重威胁。传统的逻辑门加固结构通常会带来较大的......
随着集成电路设计工艺的进步和设计技术的革新,其工艺尺寸快速下降,辐射诱导的软错误在数字系统中变得越来越严重,数字电路的可靠......
