空穴捕获-释放模型相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

空穴捕获-释放模型相关论文

纳米CMOS器件的NBT1效应及其物理模型

随着CMOS器件尺寸的缩小,栅介质厚度已经减薄到接近其物理极限。然而,电源电压减小的相对滞后导致的强电场引发了各种可靠性问题。......

学位

pMOS器件可靠性负偏温度不稳定性界面态氧化层电荷反应-扩散模型空穴捕获-释放模型

纳米CMOS器件的NBTI效应及其物理模型

随着CMOS器件尺寸的缩小,栅介质厚度已经减薄到接近其物理极限。然而,电源电压减小的相对滞后导致的强电场引发了各种可靠性问题。......

学位

pMOS器件可靠性负偏温度不稳定性界面态氧化层电荷反应-扩散模型空穴捕获-释放模型

看过本文同时还关注